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新疆理化技术研究所 [30]
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期刊论文 [20]
学位论文 [10]
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2022 [2]
2021 [1]
2019 [2]
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Anti-irradiation SAW temperature sensor based on 128 degrees YX LiNbO3 single crystal
期刊论文
SENSORS AND ACTUATORS A-PHYSICAL, 2022, 卷号: 333, 期号: 1, 页码: 1-8
作者:
Zhao, CQ (Zhao, Caiqin) [1]
;
Geng, WP (Geng, Wenping) [1]
;
Qiao, XJ (Qiao, Xiaojun) [1]
;
Xue, F (Xue, Feng) [1]
;
He, JL (He, Jinlong) [1]
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2022/05/17
LiNbO3 single crystal
Anti-irradiation
SAW devices
Temperature sensor
gamma-ray irradiation
Total Ionizing Dose Effects of the Color Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS) Image Sensor at Different Bias
期刊论文
JOURNAL OF NANOELECTRONICS AND OPTOELECTRONICS, 2022, 卷号: 17, 期号: 1, 页码: 121-127
作者:
Yang, ZK (Yang, Zhikang) [1] , [2]
;
Wen, L (Wen, Lin) [1]
;
Li, YD (Li, Yudong) [1]
;
Liu, BK (Liu, Bingkai) [1] , [2]
;
Fu, J (Fu, Jing) [1] , [2]
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2022/06/21
Color CMOS Image Sensor
Radiation Damage
Total Ionizing Dose Effects
Bias Condition
Role of the oxide trapped charges in charge coupled device ionizing radiation-induced dark signal
期刊论文
RADIATION PHYSICS AND CHEMISTRY, 2021, 卷号: 189, 期号: 12, 页码: 1-5
作者:
Li, YD (Li, Yudong)
;
Liu, BK (Liu, Bingkai)
;
Wen, L (Wen, Lin)
;
Wei, Y (Wei, Ying)
;
Zhou, D (Zhou, Dong)
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2021/10/14
Radiation effectsTotal ionizing dose (TID)Charge coupled device (CCD)Dark signalOxide trapped charges
Mechanism of Degradation Rate on the Irradiated Double-Polysilicon Self-Aligned Bipolar Transistor
期刊论文
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 6, 页码: 1-8
作者:
Liu, MH (Liu, Mohan)[ 1,2 ]
;
Lu, W (Lu, Wu)[ 1 ]
;
Yu, X (Yu, Xin)[ 1,2 ]
;
Wang, X (Wang, Xin)[ 1 ]
;
Li, XL (Li, Xiaolong)[ 1 ]
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2020/04/03
saturation effect
gain degradation
total ionizing dose
gamma ray
bipolar transistor
A study on effects of total ionizing dose on hot carrier effect of PD I/O SOI PMOSFETs
期刊论文
RESULTS IN PHYSICS, 2019, 卷号: 13, 期号: 6, 页码: 1-5
作者:
Zhao, JH (Zhao, Jinghao)[ 1,2,3 ]
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1,2 ]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1,2 ]
;
Zhou, H (Zhou, Hang)[ 1,2,3 ]
;
Liang, XW (Liang, Xiaowen)[ 1,2,3 ]
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2020/03/20
Hot carrier effect
PMOS
Total ionizing dose effect
Read Static Noise Margin Decrease of 65-nm 6-T SRAM Cell Induced by Total Ionizing Dose
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 2, 页码: 691-697
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)
;
Yu, XF (Yu, Xuefeng)
;
Lu, W (Lu, Wu)
;
He, CF (He, Chengfa)
收藏
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浏览/下载:48/0
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提交时间:2018/05/15
Static Noise Margin (Snm)
Static Random Access Memory (Sram)
Total Ionizing Dose (Tid)
Analysis of proton and gamma-ray radiation effects on CMOS active pixel sensors
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 期号: 11, 页码: 1-5
作者:
Ma, LD (Ma, Lindong)
;
Li, YD (Li, Yudong)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
;
Wen, L (Wen, Lin)
;
Zhou, D (Zhou, Dong)
收藏
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2018/01/08
Complementary Metal-oxide-semiconductor (Cmos) Active Pixel Sensor
Dark Current
Fixed-pattern Noise
Quantum Efficiency
混合工艺DAC及ADC的总剂量效应研究
学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2016
作者:
王信
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2016/09/27
3T和4T-CMOS图像传感器空间辐射效应及损伤机理研究
学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2016
作者:
汪波
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浏览/下载:193/0
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提交时间:2016/09/27
CMOS图像传感器
钳位光电二极管
电离总剂量效应
位移损伤效应
抗辐射加固
Total ionizing dose radiation effects in foue-transistor complementary metal oxide semiconductor image sensors
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2016, 卷号: 65, 期号: 2
作者:
Wang, F (Wang Fan)
;
Li, YD (Li Yu-Dong)
;
Guo, Q (Guo Qi)
;
Wang, B (Wang Bo)
;
Zhang, XY (Zhang Xing-Yao)
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2016/12/13
complementary metal oxide semiconductor image sensor
total ionizing dose radiation effect
pinned photodiode
full well chargecapacity
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