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Synergistic effect of enhanced low-dose-rate sensitivity and single event transient in bipolar voltage comparator LM139
期刊论文
JOURNAL OF NUCLEAR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2019, 卷号: 56, 期号: 2, 页码: 172-178
作者:
Yao, S (Yao, Shuai)[ 1,2,3 ]
;
Lu, W (Lu, Wu)[ 1,2,4 ]
;
Yu, X (Yu, Xin)[ 1,2 ]
;
Wang, X (Wang, Xin)[ 1,2 ]
;
Li, XL (Li, Xiaolong)[ 1,2,3 ]
收藏
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浏览/下载:81/0
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提交时间:2019/02/25
Enhanced low dose rate sensitivity
single event transient
bipolar voltage comparator
synergistic effect
Comparison of holes trapping and protons transport induced by low dose rate gamma radiation in oxide on different SiGe processes
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 103, 期号: 12, 页码: 1-5
作者:
Li, P (Li, Pei)[ 1 ]
;
He, CH (He, ChaoHui)[ 1 ]
;
Guo, HX (Guo, HongXia)[ 2,3 ]
;
Zhang, JX (Zhang, JinXin)[ 4 ]
;
Li, YH (Li, YongHong)[ 1 ]
收藏
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浏览/下载:33/0
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提交时间:2020/01/10
SiGe HBTs
Oxide isolation
ELDRS
EHPs generation
Holes trapping
Protons transportation
Mechanism of Degradation Rate on the Irradiated Double-Polysilicon Self-Aligned Bipolar Transistor
期刊论文
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 6, 页码: 1-8
作者:
Liu, MH (Liu, Mohan)[ 1,2 ]
;
Lu, W (Lu, Wu)[ 1 ]
;
Yu, X (Yu, Xin)[ 1,2 ]
;
Wang, X (Wang, Xin)[ 1 ]
;
Li, XL (Li, Xiaolong)[ 1 ]
收藏
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2020/04/03
saturation effect
gain degradation
total ionizing dose
gamma ray
bipolar transistor
双极器件ELDRS效应研究进展
期刊论文
原子核物理评论, 2019, 卷号: 36, 期号: 4, 页码: 477-483
作者:
陆妩
;
李小龙
;
于新
;
王信
;
刘默寒
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浏览/下载:25/0
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提交时间:2020/04/30
双极器件
剂量率效应
低剂量率损伤增强效应
加速评估技术
高总剂量水平双极器件剂量率效应及加速评估试验方法的研究
学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2018
作者:
李小龙
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2018/07/06
双极晶体管
剂量率效应
低剂量率损伤增强效应
损伤机制
变温加速评估方法
A Multi-Time-Step Finite Element Algorithm for 3-D Simulation of Coupled Drift-Diffusion Reaction Process in Total Ionizing Dose Effect
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING, 2018, 卷号: 31, 期号: 1, 页码: 183-189
作者:
Xu, Jingjie
;
Ma, Zhaocan
;
Li, Hongliang
;
Song, Yu
;
Zhang, Linbo
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2018/07/30
Drift-diffusion reaction
ELDRS
finite element method
multi-time-step algorithm
TID
Estimation of low-dose-rate degradation on bipolar linear circuits using different accelerated evaluation methods
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2018, 卷号: 67, 期号: 9, 页码: 202-209
作者:
Li, XL (Li Xiao-Long)[ 1,2,3 ]
;
Lu, W (Lu Wu)[ 1,2 ]
;
Wang, X (Wang Xin)[ 1,2,3 ]
;
Guo, Q (Guo Qi)[ 1,2 ]
;
He, CF (He Cheng-Fa)[ 1,2 ]
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2018/09/27
Bipolar Circuit
Enhanced Low-dose-rate Sensitivity
Accelerated Evaluation Method
Estimation of enhanced low dose rate sensitivity mechanisms using temperature switching irradiation on gate-controlled lateral PNP transistor
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2018, 卷号: 27, 期号: 3, 页码: 1-9
作者:
Li, XL (Li, Xiao-Long)
;
Lu, W (Lu, Wu)
;
Wang, X (Wang, Xin)
;
Yu, X (Yu, Xin)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2018/05/14
Ionizing Radiation Damage
Enhanced Low Dose Rate Sensitivity (Eldrs)
Switched Temperature Irradiation
Gate-controlled Lateral Pnp Transistor (glPnp)
Using temperature-switching approach to evaluate the ELDRS of bipolar devices
期刊论文
RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2018, 卷号: 172, 期号: 11-12, 页码: 824-834
作者:
Li, XL (Li, Xiaolong)
;
Lu, W (Lu, Wu)
;
Wang, X (Wang, Xin)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
;
Yu, X (Yu, Xin)
收藏
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2018/07/24
Bipolar Technology
Co-60 Gamma Irradiation
Enhanced Low-dose Rate Sensitivity (Eldrs)
Temperature-switching Approach (Tsa)
Investigation of enhanced low dose rate sensitivity in SiGe HBTs by Co-60 gamma irradiation under different biases
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2018, 卷号: 84, 期号: 5, 页码: 105-111
作者:
Zhang, JX (Zhang, Jin-xin)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
;
Guo, HX (Guo, Hong-xia)
;
Lu, W (Lu, Wu)
;
He, CH (He, Chao-hui)
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2018/06/20
Eldrs
Sige Hbt
Gamma Irradiation
Bias Conditions
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