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p型金属氧化物半导体场效应晶体管低剂量率辐射损伤增强效应模型研究 期刊论文
物理学报, 2011, 卷号: 60, 期号: 6, 页码: 812-818
作者:  高博;  余学峰;  任迪远;  崔江维;  兰博
收藏  |  浏览/下载:15/0  |  提交时间:2012/11/29
12位BiCMOS模数转换器的剂量率效应 期刊论文
核技术, 2011, 卷号: 34, 期号: 9, 页码: 669-674
作者:  吴雪;  陆妩;  王义元;  胥佳灵;  张乐情
收藏  |  浏览/下载:13/0  |  提交时间:2012/11/29
运算放大器不同剂量率的辐射损伤效应 期刊论文
半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 7, 页码: 1464-1468
作者:  陆妩;  任迪远;  郭旗;  余学峰;  艾尔肯
收藏  |  浏览/下载:12/0  |  提交时间:2012/11/29
双极晶体管不同剂量率的辐射效应和退火特性 期刊论文
核技术, 2005, 卷号: 28, 期号: 12, 页码: 925-928
作者:  陆妩;  余学锋;  任迪远;  艾尔肯;  郭旗
收藏  |  浏览/下载:11/0  |  提交时间:2012/11/29
JFET输入运算放大器不同剂量率的辐照和退火特性 期刊论文
核技术, 2005, 卷号: 28, 期号: 10, 页码: 755-760
作者:  陆妩;  任迪远;  郭旗;  余学峰;  艾尔肯
收藏  |  浏览/下载:10/0  |  提交时间:2012/11/29


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