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Impact of High TID Irradiation on Stability of 65 nm SRAM Cells
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2022, 卷号: 69, 期号: 5, 页码: 1044-1050
作者:
Cui, JW (Cui, Jiangwei) [1]
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) [1]
;
Li, YD (Li, Yudong) [1]
;
Guo, Q (Guo, Qi) [1]
收藏
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浏览/下载：17/0
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提交时间：2022/06/21
SRAM cells
Radiation effects
Arrays
Stability criteria
Circuit stability
Voltage measurement
Logic gates
Stability
static random-access memory (SRAM) cell
total ionizing dose (TID)
Verification of SEU resistance in 65 nm high-performance SRAM with dual DICE interleaving and EDAC mitigation strategies
期刊论文
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2021, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 13
作者:
He, Ze
;
Zhao, Shi-Wei
;
Liu, Tian-Qi
;
Cai, Chang
;
Yan, Xiao-Yu
收藏
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浏览/下载：68/0
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提交时间：2022/01/12
Double interlocked storage cell (DICE)
Error detection and correction (EDAC) code
Heavy ion
Radiation hardening technology
Single event upset (SEU)
Static random-access memory (SRAM)
Impacts of carbon ions on SEU in SOI SRAM
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2021, 卷号: 126, 页码: 6
作者:
Gao, J.
;
Zhang, Q.
;
Xi, K.
;
Li, B.
;
Wang, C.
收藏
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浏览/下载：25/0
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提交时间：2022/01/24
SEE
SEU
SOI SRAM
C
Measurement and evaluation of the Single Event Effects of high-performance SerDes circuits
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 2021, 卷号: 1012, 页码: 11
作者:
Wang, Shu
;
Cai, Chang
;
Ning, Bingxu
;
He, Ze
;
Huang, Zhiqin
收藏
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浏览/下载：19/0
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提交时间：2021/12/08
SerDes
SRAM-based FPGA
Single Event Upset
Single Event Functional Interrupt
SRAM型FPGA的SEU容错技术研究
学位论文
中国科学院光电技术研究所: University of Chinese Academy of Sciences, 2021
作者:
钟敏
收藏
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浏览/下载：60/0
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提交时间：2021/06/28
Sram型fpga，bram，cram，seu，mbu
Influence of Orbital Parameters on SEU Rate of Low-Energy Proton in Nano-SRAM Device
期刊论文
SYMMETRY-BASEL, 2020, 卷号: 12, 期号: 12, 页码: 10
作者:
Ye, Bing
;
Mo, Li-Hua
;
Liu, Tao
;
Sun, You-Mei
;
Liu, Jie
收藏
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浏览/下载：13/0
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提交时间：2021/12/13
SRAM
single-event upset
on-orbit error rate
low-energy proton
基于SRAM型FPGA的空间相机故障注入及测试系统研究
学位论文
北京: 中国科学院大学, 2020
作者:
王金桥
收藏
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浏览/下载：38/0
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提交时间：2020/06/15
SRAM型FPGA
SelectMAP
配置内存
故障注入
刷新
SEU tolerance improvement in 22 nm UTBB FDSOI SRAM based on a simple 8T hardened cell
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 100, 页码: 6
作者:
Cai, C.
;
Zhao, P. X.
;
Xu, L. W.
;
Liu, T. Q.
;
Li, D. Q.
收藏
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浏览/下载：16/0
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提交时间：2022/01/19
UTBB FDSOI
Radiation hardened
8T
SRAM
Single event upset
SRAM型FPGA在辐照环境下的容错技术研究
学位论文
中国科学院大学光电技术研究所: 中国科学院大学, 2019
作者:
薛晓良
收藏
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浏览/下载：30/0
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提交时间：2019/06/26
Sram型fpga，virtex-5，配置ram，icap，seu，必要位，帧结构
Sky-RAM: Skyrmionic Random Access Memory
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2019, 卷号: 40, 页码: 722-725
作者:
Chen, Xing
;
Zhang, Haoyang
;
Deng, Erya
;
Yang, Mingchang
;
Lei, Na
收藏
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浏览/下载：3/0
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提交时间：2019/12/30
Skyrmion
SRAM
cache
nonvolatile memory
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