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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Verification of SEU resistance in 65 nm high-performance SRAM with dual DICE interleaving and EDAC mitigation strategies 期刊论文 NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2021, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 13 作者:  He, Ze;  Zhao, Shi-Wei;  Liu, Tian-Qi;  Cai, Chang;  Yan, Xiao-Yu 收藏  |  浏览/下载：64/0  |  提交时间：2022/01/12 Double interlocked storage cell (DICE)  Error detection and correction (EDAC) code  Heavy ion  Radiation hardening technology  Single event upset (SEU)  Static random-access memory (SRAM)   Design, Application, and Verification of the Novel SEU Tolerant Abacus-Type Layouts 期刊论文 ELECTRONICS, 2021, 卷号: 10, 期号: 23, 页码: 11 作者:  Sun, Yi;  Li, Zhi;  He, Ze;  Chi, Yaqing 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2022/04/11 D flip-flop  double interlocked storage cell  single event upset