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	Cu2O-Au nanowire field-effect phototransistor for hot carrier transfer enhanced photodetection 期刊论文 NANOTECHNOLOGY, 2019, 卷号: 30, 期号: 24, 页码: 245202 作者: Duan, Yongsheng[1]; Zhu, Yatai[2]; Li, Kai[3]; Wang, Quan[4]; Wang, Peng[5] 收藏 \| 浏览/下载：3/0 \| 提交时间：2019/12/24 cuprous oxide nanowires metal-semiconductor nanostructures hot carrier transfer field-effect phototransistor photodetector
	A study on effects of total ionizing dose on hot carrier effect of PD I/O SOI PMOSFETs 期刊论文 RESULTS IN PHYSICS, 2019, 卷号: 13, 期号: 6, 页码: 1-5 作者: Zhao, JH (Zhao, Jinghao)[ 1,2,3 ]; Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1,2 ]; Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1,2 ]; Zhou, H (Zhou, Hang)[ 1,2,3 ]; Liang, XW (Liang, Xiaowen)[ 1,2,3 ] 收藏 \| 浏览/下载：29/0 \| 提交时间：2020/03/20 Hot carrier effect PMOS Total ionizing dose effect
	Investigation of Self-Heating Effect on Hot Carrier Degradation in Multiple-Fin SOI FinFETs 期刊论文 IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2015 Jiang, Hai; Liu, Xiaoyan; Xu, Nuo; He, Yandong; Du, Gang; Zhang, Xing 收藏 \| 浏览/下载：3/0 \| 提交时间：2017/12/03 FinFETs hot carrier degradation (HCD) reliability self-heating effect (SHE) silicon-on-insulator (SOI) thermal resistance (Rth) N-FINFETS MOSFETS INJECTION
	Degradation of the front and back channels in a deep submicron partially depleted SOI NMOSFET under off-state stress 期刊论文 Journal of Semiconductors, 2013, 卷号: 34, 期号: 7, 页码: 074008-1-074008-6 作者: Zheng, Qiwen; Yu, Xuefeng; Cui, Jiangwei; Guo, Qi; Cong, Zhongchao 收藏 \| 浏览/下载：16/0 \| 提交时间：2014/11/11 silicon-on-insulator hot-carrier effect hump back gate
	The influence of channel size on total dose irradiation and hot-carrier effects of sub-micro NMOSFET 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2012, 卷号: 61, 期号: 2, 页码: - 作者: Cui Jiang-Wei; Yu Xue-Feng; Ren Di-Yuan; Lu Jian 收藏 \| 浏览/下载：21/0 \| 提交时间：2012/11/29 sub-micro total dose irradiation hot-carrier effect
	LDD MOS器件模拟及热载流子效应分析期刊论文 2010, 2010 徐杰; 张文俊; 张锐; XU Jie; ZHANG Wen-jun; ZHANG Rui 收藏 \| 浏览/下载：4/0
	Temperature dependence of field emission of nano-diamond 期刊论文 acta physica sinica, 2010, 卷号: 59, 期号: 4, 页码: 2666-2671 作者: Yang Yan-Ning; Zhang Zhi-Yong; Zhang Fu-Chun; Zhang Wei-Hu; Yan Jun-Feng 收藏 \| 浏览/下载：12/0 \| 提交时间：2015/09/16 field emission nano-diamond scale effect hot carrier
	新的正向栅控二极管技术分离热载流子应力诱生SOI NMOSFET界面陷阱和界面电荷的研究期刊论文半导体学报, 2002 何进; 张兴; 黄如; 王阳元收藏 \| 浏览/下载：2/0 \| 提交时间：2015/10/23 热载流子应力效应界面陷阱界面电荷R-G电流栅控二极管 SOI NMOSFET SOI-NMOS device hot-carrier-effect interfa
	开态热载流子应力下的n-MOSFETs的氧化层厚度效应期刊论文半导体学报, 2002 胡靖; 穆甫臣; 许铭真; 谭长华收藏 \| 浏览/下载：2/0 \| 提交时间：2015/11/11 HCI HCI hot-carrier effect oxide thickness effect lifetime prediction model device reliability 热载流子效应氧化层厚度效应寿命预测模型器件可靠性
	An improved method for determining the critical energy for interface trap generation of n-MOSFETs under V-g = V-d/2 stress mode 期刊论文固体电子学, 2001 Mu, FC; Mao, LF; Wei, JL; Tan, CH; Xu, MZ 收藏 \| 浏览/下载：2/0 \| 提交时间：2015/11/10 hot carriers interface trap generation n-MOSFET electron trapping effect FIELD-EFFECT TRANSISTORS HOT-CARRIER DEGRADATION MOS-TRANSISTORS OXIDE

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