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Bias dependence of total ionizing dose effects in 22 nm bulk nFinFETs 期刊论文
RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2022, 卷号: 177, 期号: 3-4, 页码: 372-382
作者:  Cui, X (Cui, Xu) [1] , [2] , [3];  Cui, JW (Cui, Jiang-Wei) [1] , [2] , [3];  Zheng, QW (Zheng, Qi-Wen) [1] , [2] , [3];  Wei, Y (Wei, Ying) [1] , [2] , [3];  Li, YD (Li, Yu-Dong) [1] , [2] , [3]
收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2022/06/21
Total ionizing dose and synergistic effects of magnetoresistive random-access memory 期刊论文
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2018, 卷号: 29, 期号: 8, 页码: 1-5
作者:  Zhang, XY (Zhang, Xing-Yao);  Guo, Q (Guo, Qi);  Li, YD (Li, Yu-Dong);  Wen, L (Wen, Lin);  Zhang, XY
收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2018/08/07
3T和4T-CMOS图像传感器空间辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2016
作者:  汪波
收藏  |  浏览/下载：193/0  |  提交时间：2016/09/27
60Co-γ射线和电子束对CCD辐射效应的比较研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2016
作者:  武大猷
收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2016/09/27
Total ionizing dose effects of domestic SiGe HBTs under different dose rates 期刊论文
CHINESE PHYSICS C, 2016, 卷号: 40, 期号: 3
作者:  Liu, MH (Liu, Mo-Han);  Lu, W (Lu, Wu);  Ma, WY (Ma, Wu-Ying);  Wang, X (Wang, Xin);  Guo, Q (Guo, Qi)
收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2016/12/12
CCD空间累积辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
作者:  文林
收藏  |  浏览/下载：111/0  |  提交时间：2015/06/15
Research on dark signal degradation in Co-60 gamma-ray-irradiated CMOS active pixel sensor 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2014, 卷号: 63, 期号: 5
作者:  Wang Bo;  Li Yu-Dong;  Guo Qi;  Liu Chang-Ju;  Wen Lin
收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2014/11/11
60Co-γ射线辐照CMOS有源像素传感器诱发暗信号退化的机理研究 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 5, 页码: 313-319
作者:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林
收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2014/11/11
混合工艺数模转换器总剂量效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2013
作者:  王信
收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2013/06/05
高Al组分AlGaN日盲紫外光电器件的辐射效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2013
作者:  张孝富
收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2013/06/05

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