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科研机构
微电子研究所 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2016 [3]
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发表日期:2016
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Reduction of NiGe/n-and p-Ge Specific Contact Resistivity by Enhanced Dopant Segregation in the Presence of Carbon During Nickel Germanidation
期刊论文
IEEE Transactions on Electron Devices, 2016
作者:
Duan NY(段宁远)
;
Wang GL(王桂磊)
;
Liu JB(刘金彪)
;
Eddy simoen
;
Mao SJ(毛淑娟)
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提交时间:2017/05/09
Study of SiGe selective epitaxial process integration with high-k and metal gate for 16/14 nm nodes FinFET technology
期刊论文
Microelectronics Engineering, 2016
作者:
Wang GL(王桂磊)
;
Qin ZL(秦长亮)
;
Yin HX(殷华湘)
;
Duan NY(段宁远)
;
Yang T(杨涛)
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2017/05/09
On the Manipulation of Phosphorus Diffusion as Well as the Reduction of Specific Contact Resistivity in Ge by Carbon Co-Doping
期刊论文
ECS Transactions, 2016
作者:
Luo J(罗军)
;
Liu JB(刘金彪)
;
Eddy Simoen
;
Wang GL(王桂磊)
;
Mao SJ(毛淑娟)
收藏
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2017/05/09
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