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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Analysis of Dark Signal Degradation Caused by 1 MeV Neutron Irradiation on Backside-Illuminated CMOS Image Sensors 期刊论文 CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2021, 卷号: 30, 期号: 1, 页码: 180-184 作者:  Liu, BK (Liu Bingkai)[ 1,2,3 ];  Li, YD (Li Yudong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen Lin)[ 1,2 ];  Zhou, D (Zhou Dong)[ 1,2 ];  Feng, J (Feng Jie)[ 1,2 ] 收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2021/05/10 Backside‐  illuminated CMOS image sensors  Dark signal behaviors  Displacement damage effects  Neutron irradiation   A study of hot pixels induced by proton and neutron irradiations in charge coupled devices 期刊论文 RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2020, 卷号: 175, 期号: 5-6, 页码: 540-550 作者:  Liu, BK (Liu, Bingkai)[ 1,2,3 ];  Li, YD (Li, Yudong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ];  Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ];  Feng, J (Feng, Jie)[ 1,2 ] 收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2020/07/06 Charge coupled devices (CCDs)  proton irradiation  neutron irradiation  hot pixels  displacement damage effects   Displacement damage effects induced by fast neutron in backside-illuminated CMOS image sensors 期刊论文 JOURNAL OF NUCLEAR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2020, 卷号: 57, 期号: 9, 页码: 1015-1021 作者:  Zhang, X (Zhang, Xiang)[ 1,2,3 ];  Li, YD (Li, Yudong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ];  Feng, J (Feng, Jie)[ 1,2 ];  Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ] 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2020/12/09 14-MeV neutron  neutron irradiation  radiation damage  radiation effect   3T和4T-CMOS图像传感器空间辐射效应及损伤机理研究 学位论文 博士, 北京: 中国科学院大学, 2016 作者:   收藏  |  浏览/下载：193/0  |  提交时间：2016/09/27 CMOS图像传感器  钳位光电二极管  电离总剂量效应  位移损伤效应  抗辐射加固   典型运放、比较器的电离和位移损伤的研究 学位论文 硕士, 北京: 中国科学院大学, 2015 作者:  姜柯 收藏  |  浏览/下载：86/0  |  提交时间：2015/06/15 60Coγ辐照源  质子辐射  电子辐射  中子辐射  双极器件  辐射效应   Effects of proton and neutron irradiation on dark signal of charge-coupled device 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2015, 卷号: 64, 期号: 19 作者:  Zeng, JZ (Zeng Jun-Zhe);  Li, YD (Li Yu-Dong);  Wen, L (Wen Lin);  He, CF (He Cheng-Fa);  Guo, Q (Guo Qi) 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2018/01/24 Charge Coupled Devices  Proton Irradiation  Neutron Irradiation  Transport Simulation