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科研机构
安徽大学 [5]
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期刊论文 [5]
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2019 [3]
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Architectural Exploration to Address the Reliability Challenges for ReRAM-Based Buffer in SSD
期刊论文
IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 2019, 卷号: Vol.66 No.1, 页码: 226-238
作者:
Xiaoqing Zhao
;
Liangliang Dai
;
Nanning Zheng
;
Xiulong Wu
;
Yang Yang
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2019/04/24
Reliability
Nonvolatile
memory
Prototypes
Bit
error
rate
Computer
architecture
Transistors
Sun
ReRAM
solid
state
drive
reliability
endurance
bit
error
rate
Architectural Exploration to Address the Reliability Challenges for ReRAM-Based Buffer in SSD
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2019, 卷号: Vol.66 No.1, 页码: 226-238
作者:
Zheng, Nanning
;
Liu, Longjun
;
Yang, Yang
;
Wu, Xiulong
;
Zhao, Xiaoqing
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2019/04/24
ReRAM
solid
state
drive
reliability
endurance
bit
error
rate
A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS, 2019, 卷号: Vol.66 No.2, 页码: 287-291
作者:
Fang, Xiangsheng
;
Zhang, Jiliang
;
Cui, Jie
;
Huang, Zhengfeng
;
Yang, Kang
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  |  
浏览/下载:40/0
  |  
提交时间:2019/04/24
Circuit
reliability
radiation
hardening
soft
error
double-node
upset
single
node
upset
A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application
期刊论文
IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, 2018, 页码: 1
作者:
Jie Cui
;
Xiangsheng Fang
;
Jiliang Zhang
;
Maoxiang Yi
;
Zhengfeng Huang
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2019/04/22
Latches
Radiation
hardening
Clocks
Feedback
loop
Power
dissipation
Reliability
Electronic
mail
Circuit
reliability
radiation
hardening
soft
error
double-node
upset
single
node
upset.
Crystal structures of multicopper oxidase CueO G304K mutant: structural basis of the increased laccase activity
期刊论文
SCIENTIFIC REPORTS, 2018, 卷号: Vol.8
作者:
Yue, Qingxia
;
Zhao, Jintong
;
Tian, Jian
;
Fan, Yunliu
;
Yan, Yuhua
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提交时间:2019/04/24
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