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Characterization of the pathogenicity of a Bacillus cereus isolate from the Mariana Trench 期刊论文
VIRULENCE, 2022, 卷号: 13, 期号: 1, 页码: 1062-1075
作者:  Wang, Yujian;  Zhang, Jian;  Yuan, Zihao;  Sun, Li
收藏  |  浏览/下载：418/0  |  提交时间：2022/07/18
Study on the vibration isolation performance of an open trench-wave impedance block barrier using perfectly matched layer boundaries 期刊论文
JOURNAL OF VIBRATION AND CONTROL, 2022, 卷号: 28, 期号: 3-4, 页码: 329-338
作者:  Zhou, Fengxi;  Zhou, Zhixiong;  Ma, Qiang
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2022/03/01
2D analysis of vibration-isolation efficiency of an open trench-wave impedence block barrier 期刊论文
Yantu Lixue/Rock and Soil Mechanics, 2020, 卷号: 41, 期号: 12, 页码: 4087-4092 and 4115
作者:  Zhou, Feng-Xi;  Ma, Qiang;  Zhou, Zhi-Xiong
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2022/02/17
An investigation of FinFET single-event latch-up characteristic and mitigation method 期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2020, 卷号: 114, 页码: 8
作者:  Li, Dongqing;  Liu, Tianqi;  Wu, Zhenyu;  Cai, Chang;  Zhao, Peixiong
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2021/12/13
TCAD  FinFET  SCR  SEL  
背照式CMOS图像传感器的累积辐射效应研究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2020
作者:  张翔
收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2020/11/19
Total Ionizing Dose Influence on the Single-Event Multiple-Cell Upsets in 65-nm 6-T SRAM 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2019, 卷号: 66, 期号: 6, 页码: 892-898
作者:  Zheng, Qiwen;  Cui, Jiangwei;  Lu, Wu;  Guo, Hongxia;  Liu, Jie
收藏  |  浏览/下载：74/0  |  提交时间：2019/11/10
130nm部分耗尽绝缘体上硅工艺晶体管总剂量效应及模型研究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2019
作者:  席善学
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/07/15
Impact of TID on latch up induced by pulsed irradiation in CMOS circuits 期刊论文
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2019, 卷号: 440, 页码: 95-100
作者:  Li, Ruibin;  He, Chaohui;  Chen, Wei;  Li, Junlin;  Wang, Chenhui
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/11/19
An Effective Method of Reducing TSV Thermal Stress by STI 会议论文
2019 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRON DEVICES AND SOLID-STATE CIRCUITS (EDSSC), 2019-01-01
作者:  Wang, Fengjuan;  Qu, Xiaoqing;  Yu, Ningmei
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/20
Comparison of holes trapping and protons transport induced by low dose rate gamma radiation in oxide on different SiGe processes 期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 103, 期号: 12, 页码: 1-5
作者:  Li, P (Li, Pei)[ 1 ];  He, CH (He, ChaoHui)[ 1 ];  Guo, HX (Guo, HongXia)[ 2,3 ];  Zhang, JX (Zhang, JinXin)[ 4 ];  Li, YH (Li, YongHong)[ 1 ]
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