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其他 [33]
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2016 [4]
2015 [4]
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Impact of STI stress on 40-nm dogbone layout N-MOSFETs
其他
2016-01-01
Wang, Liu
;
Li, Liubin
;
Wang, Lei
;
Jiang, Lele
;
Wei, Tai
;
Cheng, Yuhua
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
IMPACT OF STI STRESS ON 40-NM DOGBONE LAYOUT N-MOSFETS
其他
2016-01-01
Wang, Liu
;
Li, Liubin
;
Wang, Lei
;
Jiang, Lele
;
Wei, Tai
;
Cheng, Yuhua
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
PERFORMANCE
Thermal-Mechanical Reliability Assessment of TSV Structure for 3D IC Integration
其他
2016-01-01
Liu, Huan
;
Zeng, Qinghua
;
Guan, Yong
;
Fang, Runiu
;
Sun, Xin
;
Su, Fei
;
Chen, Jing
;
Miao, Min
;
Jin, Yufeng
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
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提交时间:2017/12/03
THROUGH-SILICON VIAS
Insight into PBTI in InGaAs Nanowire FETs with Al2O3 and LaAlO3 Gate Dielectrics
其他
2016-01-01
Li, Y.
;
Di, S. Y.
;
Jiang, H.
;
Huang, P.
;
Wang, Y. J.
;
Lun, Z. Y.
;
Shen, L.
;
Yin, L. X.
;
Zhang, X.
;
Du, G.
;
Liu, X. Y.
收藏
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浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
A method to evaluate the influence of different substrate on stress mismatch induced deformation in MEMS accelerometer
其他
2015-01-01
You, Jun
;
Tian, Dayu
;
He, Chunhua
;
Zhao, Qiancheng
;
Yang, Zhenchuan
;
Zhang, Dacheng
;
Yan, Guizhen
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Investigation of stress rupture properties of micro beams using the piezoresistive effect
其他
2015-01-01
Guan, Taotao
;
Yang, Fang
;
Wang, Wei
;
Huang, Xian
;
He, Jun
;
Zhang, Li
;
Fu, Fengshan
;
Li, Rui
;
Zhang, Dacheng
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Investigation of Stress Rupture Properties of Micro Beams using the Piezoresistive Effect
其他
2015-01-01
Guan, Taotao
;
Yang, Fang
;
Wang, Wei
;
Huang, Xian
;
He, Jun
;
Zhang, Li
;
Fu, Fengshan
;
Li, Rui
;
Zhang, Dacheng
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2017/12/03
cross-beam structure
stress rupture properties
piezoresistive effect
FEM
mechanical testing
A Method to Evaluate the Influence of Different Substrate on Stress Mismatch Induced Deformation in MEMS Accelerometer
其他
2015-01-01
You, Jun
;
Tian, Dayu
;
He, Chunhua
;
Zhao, Qiancheng
;
Yang, Zhenchuan
;
Zhang, Dacheng
;
Yan, Guizhen
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2017/12/03
thermal reliability
temperature drift
deformation
capacitance variation
packaging
structural design
An efficient test structure for interface trap characterization under BTI stresses
其他
2014-01-01
He, Yandong
;
Zhang, Ganggang
;
Han, Lin
;
Zhang, Xing
收藏
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浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/13
A Ring Oscillator based reliability structure for duty-cycle measurement under BTI stresses
其他
2014-01-01
Ai, Lei
;
He, Yandong
;
Qiao, Fang
;
Zhang, Ganggang
;
Zhang, Xing
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
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