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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 发表日期：2020    专题：近代物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Heavy ion track straggling effect in single event effect numerical simulation of 3D stacked devices 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2020, 卷号: 114, 页码: 10 作者:  Liu, T. Q.;  Li, D. Q.;  Cai, C.;  Zhao, P. X.;  Shen, C. 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2021/12/13 Investigation of single event effect in 28-nm system-on-chip with multi patterns* 期刊论文 CHINESE PHYSICS B, 2020, 卷号: 29, 期号: 10, 页码: 5 作者:  Yang, Wei-Tao;  Li, Yong-Hong;  Guo, Ya-Xin;  Zhao, Hao-Yu;  Li, Yang 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2021/12/15 system-on-chip  heavy ion  single event effect   Evaluation Method of Heavy-Ion-Induced Single-Event Upset in 3D-Stacked SRAMs 期刊论文 ELECTRONICS, 2020, 卷号: 9, 期号: 8, 页码: 14 作者:  Zhao, Peixiong;  Liu, Tianqi;  Cai, Chang;  He, Ze;  Li, Dongqing 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2021/12/15 Monte-Carlo simulation  single-event upset  test standard  three-dimensional integrated circuits  ultrahigh-energy heavy ion   Mechanisms of alpha particle induced soft errors in nanoscale static random access memories 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2020, 卷号: 69, 期号: 13, 页码: 9 作者:  Zhang Zhan-Gang;  Ye Bing;  Ji Qing-Gang;  Guo An-Long;  Xi Kai 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2022/01/12 alpha particle  soft error  single event upset  accelerated test   A single-ion monitor based on coincident measurement of secondary electrons for single event effect research 期刊论文 REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2020, 卷号: 91, 期号: 4, 页码: 10 作者:  Jin, Ying;  Zhang, Yuezhao;  Liu, Junliang;  Yu, Deyang;  Wang, Hui 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2022/01/18 Silicon equivalent gas in silicon equivalent proportional counter - Monte Carlo simulations 期刊论文 RADIATION PHYSICS AND CHEMISTRY, 2020, 卷号: 167, 页码: 4 作者:  Chiang, Yueh;  Chao, Tsi-Chian;  Cho, I-Chun;  Lee, Chung-Chi;  Hong, Ji-Hong 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2022/01/19 Silicon equivalent gas  Silicon equivalent proportional counter  Monte Carlo simulation  Linear energy transfer  Single event effect