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上海微系统与信息技... [37]
内容类型
期刊论文 [37]
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专题:上海微系统与信息技术研究所
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Plasma enhanced atomic layer deposition of HfO2 with in situ plasma treatment
期刊论文
MICROELECTRONIC ENGINEERING, 2012, 卷号: 93, 页码: 15-18
Xu, DW
;
Cheng, XH
;
Zhang, YW
;
Wang, ZJ
;
Xia, C
;
Cao, D
;
Yu, YH
;
Shen, DS
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2013/04/17
PEALD
HfO2
Plasma treatment
High-k
Plasma enhanced atomic layer deposition of HfO2 with in situ plasma treatment
期刊论文
MICROELECTRONIC ENGINEERING, 2012, 卷号: 93, 页码: 15-18
Xu, DW
;
Cheng, XH
;
Zhang, YW
;
Wang, ZJ
;
Xia, C
;
Cao, D
;
Yu, YH
;
Shen, DS
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2013/05/10
Engineering
Physics
Electrical & Electronic
Nanoscience & Nanotechnology
Applied
Optics
Effects of Al2O3 on Thermal Stability and Electrical Reliability of HfO2 Film on Strained SiGe
期刊论文
RARE METAL MATERIALS AND ENGINEERING, 2011, 卷号: 40, 期号: 8, 页码: 1344-1347
Xu, DP
;
Wan, L
;
(程新红)
;
He, DW
;
Song, ZR
;
Yu, YH
;
Shen, DS
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2012/04/10
NORTHWEST INST NONFERROUS METAL RESEARCH
Effects of Al2O3 on Thermal Stability and Electrical Reliability of HfO2 Film on Strained SiGe
期刊论文
RARE METAL MATERIALS AND ENGINEERING, 2011, 卷号: 40, 期号: 8, 页码: 1344-1347
Xu, DP
;
Wan, L
;
Cheng, XH(重点实验室)
;
He, DW
;
Song, ZR
;
Yu, YH(重点实验室)
;
Shen, DS
收藏
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2013/05/10
Materials Science
Multidisciplinary
Metallurgy & Metallurgical Engineering
The properties of high-k gate dielectric films deposited on HRSOI
期刊论文
MICROELECTRONIC ENGINEERING, 2009, 卷号: 86, 期号: 12, 页码: 2404-2407
Cheng, XH
;
Xu, DP
;
Song, ZR
;
He, DW
;
Yu, YH
;
Zhao, QT
;
Shen, DS
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2012/03/24
SOI
CAPACITORS
Interfacial and electrical characterization of HfO2 gate dielectric film with a blocking layer of Al2O3
期刊论文
ULIS 2009: 10TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ULTIMATE INTEGRATION OF SILICON, 2009, 页码: 205-208
Cheng, XH
;
He, DW
;
Song, ZR
;
Yu, YH
;
Zhao, QT
;
Shen, DS
收藏
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2012/03/24
DEPOSITION
HAFNIUM
Exciton localization effect in Mn-implanted GaN by photoluminescence measurements
期刊论文
PHYSICA B-CONDENSED MATTER, 2009, 卷号: 404, 期号: 8-11, 页码: 1222-1225
Meng, XY
;
Zhang, YH
;
Shen, WZ
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2012/03/24
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
MAGNETIC-PROPERTIES
THIN-FILMS
POTENTIAL FLUCTUATIONS
SEMICONDUCTORS
TEMPERATURE
TRANSITIONS
EPILAYERS
LAYERS
LEVEL
Interfacial and Electrical Characterization of HfO2 Gate Dielectric Film with a Blocking Layer of Al2O3
期刊论文
RARE METAL MATERIALS AND ENGINEERING, 2009, 卷号: 38, 期号: 2, 页码: 189-192
Cheng, XH
;
He, DW
;
Song, ZR
;
Yu, YH
;
Shen, DS
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2012/03/24
DEPOSITION
Characterization of gadolinium oxide film by pulse laser deposition
期刊论文
APPLIED SURFACE SCIENCE, 2009, 卷号: 256, 期号: 3, 页码: 921-923
Cheng, XH
;
Xu, DP
;
Song, ZR
;
He, DW
;
Yu, YH
;
Zhao, QT
;
Shen, DS
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2012/03/24
SILICON
PR2O3
GD2O3
Interfacial and electrical characterization of HfO(2) gate dielectric film with a blocking layer of Al(2)O(3)
期刊论文
ULIS 2009: 10TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ULTIMATE INTEGRATION OF SILICON, 2009, 页码: 205-208
Cheng, XH(重点实验室)
;
He, DW
;
Song, ZR(重点实验室)
;
Yu, YH(重点实验室)
;
Zhao, QT
;
Shen, DS
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2013/05/10
Engineering
Materials Science
Electrical & Electronic
Multidisciplinary
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