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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 内容类型：会议论文     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Total Ionizing Dose Characterization of a SRAM in 28nm UTBB FDSOI Technology 会议论文 作者:  Qiwen Zheng;  mengxin Liu;  Jiangwei Cui;  Shanxue Xi;  Ying Wei 收藏  |  浏览/下载：32/0  |  提交时间：2019/05/10 The Increased Single-Event Upset Sensitivity of 65-nm DICE SRAM Induced by Total Ionizing Dose 会议论文 Geneva, SWITZERLAND, OCT 02-06, 2017 作者:  Zheng, Qiwen;  Cui, Jiangwei;  Lu, Wu;  Guo, Hongxia;  Liu, Jie 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2018/10/08 Charge sharing  single-event upset (SEU)  static random access memory  total ionizing dose (TID)   A Fast Topographic Correction Method for TEM Data 会议论文 TECHNOLOGY AND APPLICATION OF ENVIRONMENTAL AND ENGINEERING GEOPHYSICS, 2017-01-01 作者:  Xue, Guoqiang[1];  Chen, Weiying[2];  Cui, Jiangwei[3];  Yan, Shu[4] 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/24 Topographic correction  TEM  CSAMT