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	Total Ionizing Dose Characterization of a SRAM in 28nm UTBB FDSOI Technology
	Qiwen Zheng; mengxin Liu; Jiangwei Cui; Shanxue Xi; Ying Wei; Xuefeng Yu; Wu Lu
	2018-09-16
内容类型	会议论文
源URL	[http://159.226.55.107/handle/172511/19100]
专题	微电子研究所_硅器件与集成研发中心
推荐引用方式 GB/T 7714	Qiwen Zheng,mengxin Liu,Jiangwei Cui,et al. Total Ionizing Dose Characterization of a SRAM in 28nm UTBB FDSOI Technology[C]. 见:.

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