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一种总线式可燃气体浓度检测装置及其控制方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN101210931A, 申请日期: 2008-07-02, 公开日期: 2011-12-21
作者:  史勃;  朱军;  张环宇;  吴景辉
收藏  |  浏览/下载:9/0  |  提交时间:2013/10/15
一种总线式可燃气体浓度检测装置及其控制方法 专利
专利类型: 发明授权, 专利号: CN101210931B, 申请日期: 2008-07-02, 公开日期: 2011-12-21
作者:  史勃;  朱军;  张环宇;  吴景辉
收藏  |  浏览/下载:20/0  |  提交时间:2014/04/16
Fixing plate for optic fibres and lens array 专利
专利号: GB2338569B, 申请日期: 2000-08-23, 公开日期: 2000-08-23
作者:  EHRHARD, , DAMMANN;  JUERGEN, , BAUER
收藏  |  浏览/下载:10/0  |  提交时间:2019/12/24
半導体レーザ素子の製造方法 专利
专利号: JP3002526B2, 申请日期: 1999-11-12, 公开日期: 2000-01-24
作者:  内田 憲治;  山下 茂雄;  中塚 慎一;  梶村 俊
收藏  |  浏览/下载:9/0  |  提交时间:2020/01/13
Lens parameter measurement using optical sectioning 专利
专利号: EP0766063A3, 申请日期: 1998-10-28, 公开日期: 1998-10-28
作者:  ROSS DENWOOD F. III
收藏  |  浏览/下载:11/0  |  提交时间:2019/12/31
Method and apparatus for measuring insulation film thickness of semiconductor wafer 专利
专利号: US5568252, 申请日期: 1996-10-22, 公开日期: 1996-10-22
作者:  KUSUDA, TATSUFUMI;  KOUNO, MOTOHIRO;  NAKATANI, IKUYOSHI;  HIRAE, SADAO
收藏  |  浏览/下载:7/0  |  提交时间:2019/12/23
Sensor for semiconductor device manufacturing process control 专利
专利号: US5293216, 申请日期: 1994-03-08, 公开日期: 1994-03-08
作者:  MOSLEHI, MEHRDAD M.
收藏  |  浏览/下载:10/0  |  提交时间:2019/12/23
Distributed feedback semiconductor laser 专利
专利号: US5289494, 申请日期: 1994-02-22, 公开日期: 1994-02-22
作者:  TADA, KUNIO;  NAKANO, YOSHIAKI;  INOUE, TAKESHI;  LUO, YI;  IRITA, TAKESHI
收藏  |  浏览/下载:13/0  |  提交时间:2019/12/23
Semiconductor laser element and production of the same 专利
专利号: JP1992145680A, 申请日期: 1992-05-19, 公开日期: 1992-05-19
作者:  TANAKA TOSHIAKI;  MINAGAWA SHIGEKAZU
收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2019/12/31
- 专利
专利号: JP1990002286B2, 申请日期: 1990-01-17, 公开日期: 1990-01-17
作者:  NISHIZAWA JUNICHI;  OKUNO YASUO;  TADANO HIROSHI;  MORISHITA MASAKAZU
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