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科研机构
西安光学精密机械研... [10]
沈阳自动化研究所 [2]
内容类型
专利 [12]
发表日期
2008 [2]
2000 [1]
1999 [1]
1998 [1]
1996 [1]
1994 [2]
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一种总线式可燃气体浓度检测装置及其控制方法
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN101210931A, 申请日期: 2008-07-02, 公开日期: 2011-12-21
作者:
史勃
;
朱军
;
张环宇
;
吴景辉
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2013/10/15
一种总线式可燃气体浓度检测装置及其控制方法
专利
专利类型: 发明授权, 专利号: CN101210931B, 申请日期: 2008-07-02, 公开日期: 2011-12-21
作者:
史勃
;
朱军
;
张环宇
;
吴景辉
收藏
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2014/04/16
Fixing plate for optic fibres and lens array
专利
专利号: GB2338569B, 申请日期: 2000-08-23, 公开日期: 2000-08-23
作者:
EHRHARD, , DAMMANN
;
JUERGEN, , BAUER
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/12/24
半導体レーザ素子の製造方法
专利
专利号: JP3002526B2, 申请日期: 1999-11-12, 公开日期: 2000-01-24
作者:
内田 憲治
;
山下 茂雄
;
中塚 慎一
;
梶村 俊
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2020/01/13
Lens parameter measurement using optical sectioning
专利
专利号: EP0766063A3, 申请日期: 1998-10-28, 公开日期: 1998-10-28
作者:
ROSS DENWOOD F. III
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/12/31
Method and apparatus for measuring insulation film thickness of semiconductor wafer
专利
专利号: US5568252, 申请日期: 1996-10-22, 公开日期: 1996-10-22
作者:
KUSUDA, TATSUFUMI
;
KOUNO, MOTOHIRO
;
NAKATANI, IKUYOSHI
;
HIRAE, SADAO
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/23
Sensor for semiconductor device manufacturing process control
专利
专利号: US5293216, 申请日期: 1994-03-08, 公开日期: 1994-03-08
作者:
MOSLEHI, MEHRDAD M.
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/12/23
Distributed feedback semiconductor laser
专利
专利号: US5289494, 申请日期: 1994-02-22, 公开日期: 1994-02-22
作者:
TADA, KUNIO
;
NAKANO, YOSHIAKI
;
INOUE, TAKESHI
;
LUO, YI
;
IRITA, TAKESHI
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2019/12/23
Semiconductor laser element and production of the same
专利
专利号: JP1992145680A, 申请日期: 1992-05-19, 公开日期: 1992-05-19
作者:
TANAKA TOSHIAKI
;
MINAGAWA SHIGEKAZU
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/31
-
专利
专利号: JP1990002286B2, 申请日期: 1990-01-17, 公开日期: 1990-01-17
作者:
NISHIZAWA JUNICHI
;
OKUNO YASUO
;
TADANO HIROSHI
;
MORISHITA MASAKAZU
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2020/01/18
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