×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
上海技术物理研究所 [58]
长春光学精密机械与... [50]
上海微系统与信息技... [40]
半导体研究所 [35]
新疆理化技术研究所 [32]
厦门大学 [29]
更多...
内容类型
期刊论文 [222]
学位论文 [116]
专利 [21]
会议论文 [11]
成果 [6]
其他 [4]
更多...
发表日期
2021 [6]
2020 [9]
2019 [19]
2018 [14]
2017 [13]
2016 [13]
更多...
学科主题
红外探测材料与器件 [29]
光电子学 [18]
半导体器件 [8]
半导体材料 [7]
红外系统与元部件 [7]
红外基础研究 [6]
更多...
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共382条,第1-10条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
题名升序
题名降序
作者升序
作者降序
用于天文观测的InGaAs近红外探测器性能测试方法
期刊论文
红外与毫米波学报/Journal of Infrared and Millimeter Waves, 2022, 卷号: 41, 期号: 06, 页码: 1002-1008
作者:
孙佰成
;
郭杰
;
许方宇
;
范明国
;
龚晓霞
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2023/01/23
红外天文
InGaAs红外探测器
转换因子
读出噪声
暗电流
面向空间应用的四象限探测器筛选系统及方法
期刊论文
红外技术, 2022, 页码: 7
作者:
闫万红
;
韩振伟
;
张宏吉
;
王海峰
;
宋克非
收藏
  |  
浏览/下载:0/0
  |  
提交时间:2023/05/18
基于暗电流CMOS图像传感器固定模式噪声校正研究
期刊论文
液晶与显示, 2021, 卷号: 36, 期号: 02, 页码: 327-333
作者:
李强
;
金龙旭
;
李国宁
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2022/06/29
基于暗电流CMOS图像传感器固定模式噪声校正研究
期刊论文
液晶与显示, 2021, 卷号: 36, 期号: 02, 页码: 327-333
作者:
李强
;
金龙旭
;
李国宁
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2022/06/13
10MeV质子辐射效应对基于8T-CMOS星敏感器性能影响研究(英文)
期刊论文
原子能科学技术, 2021, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 2135-2142
作者:
冯婕1,2
;
李豫东1,2
;
傅婧1,2,3
;
文林1,2
;
郭旗1,2
收藏
  |  
浏览/下载:112/0
  |  
提交时间:2022/03/07
时空数据
可视分析
网吧记录
共现群体
辐射导致CMOS图像传感器暗电流随机电报信号(英文)
期刊论文
原子能科学技术, 2021, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 2143-2150
作者:
刘炳凯1,2,3,4
;
李豫东1,2,3
;
文林1,2,3
;
周东1,2,3
;
郭旗1,2,3
收藏
  |  
浏览/下载:37/0
  |  
提交时间:2022/03/07
CMOS图像传感器
位移损伤效应
电离总剂量效应
暗电流随机电报信号
高能质子辐照导致电荷耦合器件性能退化研究
期刊论文
现代应用物理, 2021, 卷号: 12, 期号: 3, 页码: 147-152
作者:
李钰1
;
文林2
;
周东2
;
李豫东2
;
郭旗2
收藏
  |  
浏览/下载:28/0
  |  
提交时间:2021/11/29
高能质子
位移损伤效应
电荷耦合器件
非电离能损
热像素
8T CMOS图像传感器质子辐照效应研究(英文)
期刊论文
原子能科学技术, 2021, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 2128-2134
作者:
傅婧1,2,3
;
李豫东1,2
;
冯婕1,2
;
文林1,2
;
郭旗1,2
收藏
  |  
浏览/下载:24/0
  |  
提交时间:2022/01/25
CMOS图像传感器
钳位光电二极管
质子辐照
电离总剂量
位移损伤剂量
背照式CMOS图像传感器的累积辐射效应研究
学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2020
作者:
张翔
收藏
  |  
浏览/下载:21/0
  |  
提交时间:2020/11/19
背照式CMOS 图像传感器
总剂量效应
位移损伤效应
一种基于通道分离的大面阵彩色CMOS图像传感器辐照后暗电流评估方法
专利
申请日期: 2020-08-14,
作者:
冯婕
;
李豫东
;
文林
;
周东
;
郭旗
收藏
  |  
浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2020/11/25
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace