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Field-Free 3T2SOT MRAM for Non-Volatile Cache Memories
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2020, 卷号: 67, 期号: 12, 页码: 4660-4669
作者:
Wu, Bi
;
Wang, Chao
;
Wang, Zhaohao
;
Wang, Ying
;
Zhang, Deming
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浏览/下载:42/0
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提交时间:2021/12/01
Random access memory
Magnetic tunneling
Switches
Reliability
Tunneling magnetoresistance
Metals
Transistors
SOT-MRAM
low power
high speed
high reliability
Field-Free Switching of a Spin-Orbit-Torque Device Through Interlayer-Coupling-Induced Domain Walls
期刊论文
PHYSICAL REVIEW APPLIED, 2020, 卷号: 13, 期号: 4, 页码: 10
作者:
Zhao, Xiaotian
;
Ji, Lianze
;
Liu, Wei
;
Li, Shangkun
;
Liu, Long
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浏览/下载:38/0
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提交时间:2021/02/02
Heavy ion irradiation induced hard error in MTJ of the MRAM memory array
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 100, 页码: 7
作者:
Zhao, P. X.
;
Liu, T. Q.
;
Cai, C.
;
Li, D. Q.
;
Ji, Q. G.
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2022/01/19
MTJ damage
Heavy ion
Displacement damage
Hard bit error
Annealing effect
An Adaptive Thermal-Aware ECC Scheme for Reliable STT-MRAM LLC Design
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2019, 卷号: 27, 期号: 8, 页码: 1851-1860
作者:
Wu, Bi
;
Zhang, Beibei
;
Cheng, Yuanqing
;
Wang, Ying
;
Liu, Dijun
收藏
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浏览/下载:70/0
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提交时间:2019/12/10
Error correction code (ECC)
last level cache (LLC)
reliability
spin-transfer-torque magnetoresistive random-access memory (STT-MRAM)
temperature
Lowering critical current density for spin-orbit torque induced magnetization switching by ion irradiation
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2019, 卷号: 115, 期号: 3, 页码: 5
作者:
Yun, Jijun
;
Xi, Li
;
Liu, Jie
;
Zhang, Shengxia
;
Chang, Meixia
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浏览/下载:43/0
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提交时间:2019/11/10
Non-volatility using materials with only volatile properties: Vertically integrated magnetoelectric heterostructures and their potential for multi-level-cell devices
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2019, 卷号: 114, 期号: 24
作者:
Tang, Xiao
;
Gao, Min
;
Leung, Chung Ming
;
Luo, Haosu
;
Li, Jiefang
收藏
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2019/12/26
Ferroelectric FETs-Based Nonvolatile Logic-in-Memory Circuits
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2019, 卷号: 27, 期号: 1, 页码: 159-172
作者:
Chen, Xiaoming
;
Niemier, Michael
;
Hu, Xiaobo Sharon
;
Yin, Xunzhao
收藏
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浏览/下载:71/0
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提交时间:2019/04/03
Ferroelectric FET (FeFET)
logic-in-memory (LiM)
nonvolatile (NV) memory
Novel Radiation Hardening Read/Write Circuits Using Feedback Connections for Spin-Orbit Torque Magnetic Random Access Memory
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2019, 卷号: 66, 页码: 1853-1862
作者:
Wang, Bi
;
Wang, Zhaohao
;
Wu, Bi
;
Bai, Yumeng
;
Cao, Kaihua
收藏
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2019/12/30
SOT-MRAM
radiation hardening techniques
single event upset
double-node upset
particle
reliability
Stability and Variability Emphasized STT-MRAM Sensing Circuit with Performance Enhancement
会议论文
2018 IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems, APCCAS 2018, 2018-10-26
作者:
Han, M.
;
Cai, H.
;
Yang, J.
;
Naviner, L.
;
Wang, Y.
收藏
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/12/30
Convergence of numerical methods
Magnetic anisotropy
Magnetic recording
Magnetic storage
Magnetism
Random access storage
Timing circuits
Tunnel junctions
low Vdd performance
Magnetic random access memory
Magnetic tunnel junction
Performance enhancements
Perpendicular magnetic anisotropy
Process Variation
Sensing margin
STT-MRAM
MRAM devices
Spintronic Processing Unit in Spin Transfer Torque Magnetic Random Access Memory
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2019, 卷号: 66, 页码: 2017-2022
作者:
Zhang, He
;
Kang, Wang
;
Cao, Kaihua
;
Wu, Bi
;
Zhang, Youguang
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浏览/下载:28/0
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提交时间:2019/12/30
Process-in-memory (PIM)
spin transfer toque magnetic random access memory (STT-MRAM)
spintronic processing unit (SPU)
von Neumann bottleneck
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