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	Optimization of Naphthol Green B adsorption and degradation by nZVI/CS/APT using Plackett-Burman designs and response surface methodology 期刊论文 DESALINATION AND WATER TREATMENT, 2021, 卷号: 223, 页码: 434-446 作者: Zhang, Yajuan; Xu, Hui; Tian, Lei; Chen, Minzhang; Jiang, Xu Dong 收藏 \| 浏览/下载：9/0 \| 提交时间：2021/10/14 Nanoscale zero valent iron Naphthol green B Optimization Plackett-Burman Response surface methodology
	A novel framework for the reliability modelling of repairable multistate complex mechanical systems considering propagation relationships 期刊论文 QUALITY AND RELIABILITY ENGINEERING INTERNATIONAL, 2019, 卷号: 35, 页码: 84-98 作者: Gao, Xu; Wang, Rongxi; Gao, Jianmin; Gao, Zhiyong; Deng, Wei 收藏 \| 浏览/下载：11/0 \| 提交时间：2019/11/19 reliability modelling degraded mechanism of reliability propagation relationships repairable multistate complex mechanical systems reliability analysis
	A novel framework for the reliability modelling of repairable multistate complex mechanical systems considering propagation relationships 期刊论文 Quality and Reliability Engineering International, 2019, 卷号: Vol.35 No.1, 页码: 84-98 作者: Xu Gao; Rongxi Wang; Jianmin Gao; Zhiyong Gao; Wei Deng 收藏 \| 浏览/下载：6/0 \| 提交时间：2019/12/13 degraded mechanism of reliability propagation relationships reliability analysis reliability modelling repairable multistate complex mechanical systems
	New Understanding of Random Telegraph Noise Amplitude in Tunnel FETs 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2017 Chen, Cheng; Huang, Qianqian; Zhu, Jiadi; Zhao, Yang; Guo, Lingyi; Huang, Ru 收藏 \| 浏览/下载：9/0 \| 提交时间：2017/12/03 Amplitude annealing process band-to-band tunneling (BTBT) generation rate nonuniformity random dopant fluctuation (RDF) random telegraph noise (RTN) source doping concentration tunnel FET (TFET) FIELD-EFFECT TRANSISTORS RANDOM DOPANT FLUCTUATION LINE-EDGE ROUGHNESS 1/F NOISE ELECTRICAL NOISE CMOS DEVICES VARIABILITY IMPACT TFET
	Evaluation and Optimization of the Mixed Redundancy Strategy in Cloud-Based Systems 期刊论文 CHINA COMMUNICATIONS, 2016, 卷号: 13, 期号: 9, 页码: 237-248 作者: He, Pan; Zhao, Xueliang; Tan, Chun; Zheng, Zhihao; Yuan, Yue 收藏 \| 浏览/下载：14/0 \| 提交时间：2018/03/15 Mixed redundancy strategy monitoring reliability analysis Markov chain cloud-based system
	3T和4T-CMOS图像传感器空间辐射效应及损伤机理研究学位论文博士, 北京: 中国科学院大学, 2016 作者: 汪波收藏 \| 浏览/下载：193/0 \| 提交时间：2016/09/27 CMOS图像传感器钳位光电二极管电离总剂量效应位移损伤效应抗辐射加固
	Modeling and Evaluation of Mixed Redundancy Strategy with Instant Switching in Cloud-Based Systems 会议论文 Bremen, GERMANY, OCT 02-02, 2015 作者: He, Pan; Tan, Chun; Zhao, Xueliang; Zheng, Zhihao 收藏 \| 浏览/下载：12/0 \| 提交时间：2018/03/15
	基于新型双极测试结构的低剂量率辐照感生缺陷研究学位论文博士, 北京: 中国科学院大学, 2013 作者: 席善斌收藏 \| 浏览/下载：41/0 \| 提交时间：2013/05/31 低剂量率辐射损伤增强效应栅控晶体管电荷分离损伤机理竞争模型
	Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs 其他 2008-01-01 Xue, Shoubin; Wang, Pengfei; Huang, Ru; Wu, Dake; Pei, Yunpeng; Wang, Wenhua; Zhang, Xing 收藏 \| 浏览/下载：6/0 \| 提交时间：2015/11/10 THIN GATE OXIDES HEAVY-ION IRRADIATION INDUCED LEAKAGE CURRENT RELIABILITY DEGRADATION CMOS TRANSISTORS DEPENDENCE BREAKDOWN
	SILC mechanism in degraded gate oxide with different thickness 期刊论文 pan tao ti hsueh paochinese journal of semiconductors, 2001 Wang, Zi-Ou; Wei, Jian-Lin; Mao, Ling-Feng; Xu, Ming-Zhen; Tan, Chang-Hua 收藏 \| 浏览/下载：4/0 \| 提交时间：2015/11/17

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