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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Effects of deposition temperature on the properties of sputtered yttrium-doped hafnium oxide thin films 期刊论文 MATERIALS RESEARCH EXPRESS, 2019, 卷号: 6 作者:  Zhao, Peng;  Zhou, Dayu;  Liu, Feng;  Sun, Nana;  Li, Shuaidong 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/12/02 yttrium-doped hafnium oxide  temperature  composition  phase structure  surface morphology  electrical properties   Microstructure, wettability, optical and electrical properties of HfO2 thin films: Effect of oxygen partial pressure 期刊论文 JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, 2016, 卷号: 662, 期号: 无, 页码: 339-347 作者:  Gao, J.;  He, G.;  Deng, B.;  Xiao, D. Q.;  Liu, M. 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2017/10/18 Hfo2 Thin Films  Rf Sputtering  Optical Properties  Band Gap  Wettability   Microstructure, wettability, optical and electrical properties of HfO2 thin films: Effect of oxygen partial pressure 期刊论文 Journal of Alloys and Compounds, 2016, 卷号: Vol.662, 页码: 339-347 作者:  Jin,P.;  Xiao,D. Q.;  Zheng,C. Y.;  Sun,Z. Q.;  Liu,M. 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/04/22 CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION  SPUTTERED HAFNIUM OXIDE  GATE DIELECTRICS  RATIO  MODULATION  COATINGS  LAYER   Facing-target mid-frequency magnetron reactive sputtered hafnium oxide film: Morphology and electrical properties 期刊论文 JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY, 2016, 卷号: 68, 页码: 679-685 作者:  Zhang, Yu;  Xu, Jun;  Wang, You-Nian;  Choi, Chi Kyu;  Zhou, Da-Yu 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/09 Hafnium oxide  CMOS  Roughness  Leakage current   Effects of Oxygen Partial Pressure on the Sputtered Hafnium Oxide Thin Films for Resistive Random-Access Memory 会议论文 作者:  Xie, Zhongliang;  Lai, Yunfeng 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/11/21 RE Reactive Magnetron Sputtering  Resistance Change  RRAM  Hafnium Oxide   Spectroscopic ellipsometry and positron annihilation investigation of sputtered HfO2 films 期刊论文 THIN SOLID FILMS, 2011, 卷号: 519, 期号: 19, 页码: 6349-6353 作者:  Ma, ZW;  Liu, LX;  Xie, YZ;  Su, YR;  Zhao, HT 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2016/06/29 Hafnium dioxide  Spectroscopic ellipsometry  Positron annihilation spectroscopy  Open volume defects  Sputtering