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科研机构
北京大学 [4]
内容类型
期刊论文 [4]
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2002 [1]
1998 [1]
1993 [2]
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对异型硅岛实现的厚膜全耗尽SOI MOSFET的模拟研究
期刊论文
电子学报, 2002
杨胜齐
;
何进
;
黄如
;
张兴
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提交时间:2015/10/23
异型硅岛
厚膜全耗尽SOI
Kink效应
凹陷沟道SOI器件的实验研究
期刊论文
半导体学报, 1998
张兴
;
王阳元
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提交时间:2015/11/13
SOI器件
硅膜
跨导
漏区
厚膜
氧化层厚度
寄生电容
工艺条件
串联电阻
硅栅
薄膜全耗尽SOI短沟道MOSFET准二维电流模型
期刊论文
电子学报, 1993
程玉华
;
王阳元
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提交时间:2015/10/23
SOI技术
薄膜SOI器件
短沟道器件模型
VLSI电路CAD
短沟道薄膜全耗尽SOI/MOSFET's大信号电容模型
期刊论文
半导体学报, 1993
程玉华
;
王阳元
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提交时间:2015/11/13
SOI/MOSFET&apos
SPICE
器件模拟
饱和效应
电容值
层电荷
热载流子
参数提取
体硅
器件特性
s
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