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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：北京航空航天大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Development of an infrared polarized microscope for evaluation of high gradient stress with a small distribution area on a silicon chip 期刊论文 REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2019, 卷号: 90, 页码: 063108 作者:  Su, Fei;  Li, Tenghui 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2019/12/30 Birefringence  Electronics packaging  Light polarization  Optical devices  Silicon  Thermal cycling  Three dimensional integrated circuits  Distribution area  High gradient stress  Phase difference  Phase-shifting technique  Polarized microscope  Quarter wave-plate  Stress birefringence  Through silicon vias  Vibrations (mechanical)   Development of Auto Infrared Photoelastic Microscope for Stress Measurement of Silicon 会议论文 Proceedings - 2018 19th International Conference on Electronic Packaging Technology, ICEPT 2018 作者:  Li, T.;  Yao, R.;  Yu, C.;  Su, F. 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/30 Cracks  Elasticity  Electronics packaging  Light polarization  Microscopes  Optical devices  Silicon carbide  Silicon wafers  Stresses  Wafer bonding  Wide band gap semiconductors  Electronic Packaging  Heating platform  Phase difference  Quarter wave-plate  Si-based materials  Silicon-based materials  Stress birefringence  Temperature cycling tests  Three dimensional integrated circuits