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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 内容类型：期刊论文    专题：北京航空航天大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Development of an infrared polarized microscope for evaluation of high gradient stress with a small distribution area on a silicon chip 期刊论文 REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2019, 卷号: 90, 页码: 063108 作者:  Su, Fei;  Li, Tenghui 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2019/12/30 Birefringence  Electronics packaging  Light polarization  Optical devices  Silicon  Thermal cycling  Three dimensional integrated circuits  Distribution area  High gradient stress  Phase difference  Phase-shifting technique  Polarized microscope  Quarter wave-plate  Stress birefringence  Through silicon vias  Vibrations (mechanical)