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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 发表日期：2010     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A systematical approach for noise in CMOS LNA 期刊论文 2010, 2010 Feng Dong; Shi Bingxue 收藏  |  浏览/下载：2/0 Total ionizing dose radiation effects on MOS transistors with different layouts 期刊论文 2010, 2010 Li Dongmei; Huangfu Liying; Gou Qiujing; Wang Zhihua 收藏  |  浏览/下载：3/0 Study of total ionizing dose radiation effects on enclosed gate transistors in a commercial CMOS technology 期刊论文 2010, 2010 Li Dong-Mei; Wang Zhi-Hua; Huangfu Li-Ying; Gou Qiu-Jing 收藏  |  浏览/下载：2/0 A Comparison of Avalanche Injection of Holes and Total Dose Radiation Effects in RadFETs 其他 2010-01-01 Tang, Hao; Wang, Yi; Wang, Jinyan; Zheng, Yijun; Jin, Yufeng 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 MOS STRUCTURES  SENSITIVITY  CHARGE  OXIDE