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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 限定条件 专题：光电技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Simplified unobscured optics design for a diffractive telescope 期刊论文 Applied Optics, 2020, 卷号: 59, 期号: 6, 页码: 1660-1666 作者:  He, Chuanwang;  Huang, Peng;  He, Yiwei;  Dong, Xiaochun;  Fan, Bin 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2021/05/11 Analysis of spurious diffraction orders of computer-generated hologram in symmetric aspheric metrology 期刊论文 Optics Express, 2017, 卷号: 25, 期号: 17, 页码: 20556-20572 作者:  He, Yiwei;  Hou, Xi;  Wu, Fan;  Ma, Xinxue;  Liang, Rongguang 收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2018/11/20 Aspherics - Diffraction - Electron holography - Holograms - Imaging systems - Units of measurement   Modeling near-null testing method of a freeform surface with a deformable mirror compensator 期刊论文 Applied Optics, 2017, 卷号: 56, 期号: 33, 页码: 9132-9138 作者:  He, Yiwei;  Huang, Lei;  Hou, Xi;  Fan, Wu;  Liang, Rongguang 收藏  |  浏览/下载：58/0  |  提交时间：2018/11/20 Constrained optimization - Deformation - Fits and tolerances - Mirrors - Testing   Analysis of adjustment error in aspheric null testing with CGH 期刊论文 Proceedings of SPIE: 8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technology: Optical Test, Measurement Technology, and Equipment, 2016, 卷号: 9684, 页码: 968444 作者:  He, Yiwei;  Xi, Hou;  Chen, Qiang;  Li, Chaoqiang;  Zhu, Xiaoqiang 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2018/06/14 Aspherics  Electron Holography  Errors  Holograms  Lithography  Manufacture  Optical Testing  Wavefronts   Retrace error reconstruction based on point characteristic function 期刊论文 OPTICS EXPRESS, 2015, 卷号: 23, 期号: 22 作者:  He Yiwei;  Hou, Xi;  Quan Haiyang;  Song, Weihong 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2016/02/03 Retrace error reconstruction based on point characteristic function 期刊论文 Optics Express, 2015, 卷号: 23, 期号: 22, 页码: 28216-28223 作者:  Yiwei, He;  Hou, Xi;  Haiyang, Quan;  Song, Weihong 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2016/11/22 Modeling Fizeau interferometer based on ray tracing with Zemax 会议论文 Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2015 作者:  He, Yiwei;  Hou, Xi;  Wu, Yongqian;  Wu, Fan;  Quan, Haiyang 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2016/11/24