QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共22条，第1-10条 帮助 限定条件 专题：光电技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Three-dimensional transient model for time-domain free-carrier absorption measurement of excess carriers in silicon wafers 期刊论文 JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2013, 卷号: 114, 期号: 24 作者:  Ren, Shengdong;  Li, Bincheng;  Huang, Qiuping 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2015/04/17 Characterization of Silicon Wafers with Combined Photocarrier Radiometry and Free Carrier Absorption 期刊论文 INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2013, 卷号: 34, 期号: 8-9, 页码: 1735-1745 作者:  Li, Bincheng;  Huang, Qiuping;  Ren, Shengdong 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2015/04/17 Electronic transport properties  Free carrier absorption  Ion implantation  Photocarrier radiometry  Silicon  Thermal annealing   Optical and photo-carrier characterization of ultra-shallow junctions in silicon 期刊论文 SCIENCE CHINA-PHYSICS MECHANICS & ASTRONOMY, 2013, 卷号: 56, 期号: 7, 页码: 1294-1300 作者:  Huang QiuPing;  Li BinCheng;  Ren ShengDong 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2015/04/17 photocarrier radiometry  spectroscopic ellipsometry  photoluminescence  ultra-shallow junctions  silicon   Three-dimensional transient model for time-domain free-carrier absorption measurement of excess carriers in silicon wafers 期刊论文 Journal of Applied Physics, 2013, 卷号: 114, 期号: 24, 页码: 243702 作者:  Ren, Shengdong;  Li, Bincheng;  Huang, Qiuping 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2016/11/21 Optical and photo-carrier characterization of ultra-shallow junctions in silicon 期刊论文 Science China: Physics, Mechanics and Astronomy, 2013, 卷号: 56, 期号: 7, 页码: 1294-1300 作者:  Huang, Qiuping;  Li, Bincheng;  Ren, Shengdong 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2016/11/21 Characterization of silicon wafers with combined photocarrier radiometry and free carrier absorption 期刊论文 International Journal of Thermophysics, 2013, 卷号: 34, 期号: 8-9, 页码: 1735-1745 作者:  Li, Bincheng;  Huang, Qiuping;  Ren, Shengdong 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2016/11/21 Accuracy Improvement of Multi-parameter Estimation in Combined Photocarrier Radiometry and Free Carrier Absorption for Characterization of Silicon Wafers 期刊论文 INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2012, 卷号: 33, 期号: 10-11, 页码: 2076-2081 作者:  Huang, Qiuping;  Li, Bincheng;  Ren, Shengdong 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2015/07/10 Electronic transport properties  Free carrier absorption  Multi-parameter fitting  Photocarrier radiometry  Silicon   Characterization of Arsenic Ultra-Shallow Junctions in Silicon Using Photocarrier Radiometry and Spectroscopic Ellipsometry 期刊论文 INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2012, 卷号: 33, 期号: 10-11, 页码: 2082-2088 作者:  Huang, Qiuping;  Li, Bincheng;  Gao, Weidong 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2015/07/10 Ion implantation  Photocarrier radiometry  Silicon  Spectroscopic ellipsometry  Ultra-shallow junction   Analysis of Enhanced Photocarrier Radiometry Signals for Ion-Implanted and Annealed Silicon Wafers 期刊论文 INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2012, 卷号: 33, 期号: 10-11, 页码: 2089-2094 作者:  Liu, Xianming;  Li, Bincheng;  Huang, Qiuping 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2015/07/10 Ion implantation  Photocarrier radiometry  Quantum efficiency  Thermal annealing   Photocarrier radiometry of ion-implanted and thermally annealed silicon wafers with multiple-wavelength excitations 期刊论文 JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2012, 卷号: 111, 期号: 9 作者:  Huang, Qiuping;  Li, Bincheng 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2015/07/10