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科研机构
半导体研究所 [22]
内容类型
期刊论文 [21]
会议论文 [1]
发表日期
2001 [22]
学科主题
半导体材料 [8]
半导体物理 [4]
光电子学 [1]
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发表日期:2001
专题:半导体研究所
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Investigation of {111}a and {111} planes of c-gan epilayers grown on gaas(001) by mocvd
期刊论文
Journal of crystal growth, 2001, 卷号: 233, 期号: 1-2, 页码: 52-56
作者:
Zheng, XH
;
Qu, B
;
Wang, YT
;
Feng, ZH
;
Han, JY
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2019/05/12
X-ray diffraction
Metalorganic chemical vapor deposition
Gallium compounds
Comprehensive analysis of microtwins in the 3c-sic films on si(001) substrates
期刊论文
Journal of crystal growth, 2001, 卷号: 233, 期号: 1-2, 页码: 40-44
作者:
Zheng, XH
;
Qu, B
;
Wang, YT
;
Dai, ZZ
;
Han, JY
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2019/05/12
X-ray diffraction
Chemical vapor deposition processes
Silicon carbide
X-ray diffraction determination of the fractions of hexagonal and twinned phases in cubic gan layers grown on (001)gaas substrate
期刊论文
Thin solid films, 2001, 卷号: 392, 期号: 1, 页码: 29-33
作者:
Qu, B
;
Zheng, XH
;
Wang, YT
;
Feng, ZH
;
Liu, SA
收藏
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2019/05/12
Gallium nitride
X-ray diffraction
Photoluminescence of rapid-thermal annealed mg-doped gan films
期刊论文
Solid-state electronics, 2001, 卷号: 45, 期号: 7, 页码: 1153-1157
作者:
Wang, LS
;
Fong, WK
;
Surya, C
;
Cheah, KW
;
Zheng, WH
收藏
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2019/05/12
P-type gan
Metalorganic chemical vapor deposition
Photoluminescence
X-ray diffraction
Rapid-thermal annealing
Polarity dependence of hexagonal inclusions and cubic twins in gan/gaas(001) epilayers measured by conventional x-ray pole figure and grazing incident diffraction pole figure
期刊论文
Journal of crystal growth, 2001, 卷号: 226, 期号: 1, 页码: 57-61
作者:
Qu, B
;
Zheng, XH
;
Wang, YT
;
Lin, SM
;
Yang, H
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2019/05/12
Characterization
Defects
X-ray diffraction
Metalorganic vapor phase epitaxy
Nitrides
Semiconducting iii-v materials
Microtwins and twin inclusions in the 3c-sic epilayers grown on si(001) by apcvd
期刊论文
Science in china series a-mathematics physics astronomy, 2001, 卷号: 44, 期号: 6, 页码: 777-782
作者:
Zheng, XH
;
Qu, B
;
Wang, YT
;
Dai, ZZ
;
Yang, H
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2019/05/12
3c-sic
Microtwins
X-ray four-circle diffractometer
Apcvd
Epitaxial lateral overgrowth of cubic gan by metalorganic chemical vapor deposition
期刊论文
Journal of crystal growth, 2001, 卷号: 225, 期号: 1, 页码: 45-49
作者:
Fu, Y
;
Yang, H
;
Zhao, DG
;
Zheng, XH
;
Li, SF
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2019/05/12
Photoluminescence
Sem
Epitaxial lateral overgrowth
Metalorganic chemical vapor deposition
Cubic gan
Structural characterization of cubic gan grown on gaas(001) substrates
期刊论文
Chinese journal of electronics, 2001, 卷号: 10, 期号: 2, 页码: 219-222
作者:
Zheng, XH
;
Qu, B
;
Wang, YT
;
Yang, H
;
Liang, JW
收藏
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2019/05/12
Cubic gan
X-ray double crystal diffraction
Structural characteristics
Multiplicity factor and diffraction geometry factor for single crystal x-ray diffraction analysis and measurement of phase content in cubic gan/gaas(001) epilayers
期刊论文
Science in china series a-mathematics physics astronomy, 2001, 卷号: 44, 期号: 4, 页码: 497-503
作者:
Qu, B
;
Zheng, XH
;
Wang, YT
;
Feng, ZH
;
Han, JY
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2019/05/12
Four-circle diffraction
Gan
Phase content
Orientation relationship between hexagonal inclusions and cubic GaN grown on GaAs(001) substrates
期刊论文
journal of crystal growth, 2001, 卷号: 227, 期号: 0, 页码: 399-403
Qu B
;
Zheng XH
;
Wang YT
;
Xu DP
;
Lin SM
;
Yang H
;
Liang JW
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浏览/下载:85/11
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提交时间:2010/08/12
X-ray diffraction
nitrides
semiconducting III-V materials
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