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新疆理化技术研究所 [25]
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共25条,第1-10条
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专题:新疆理化技术研究所
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一种PMOS剂量计零温度系数测量及抑制方法
专利
申请日期: 2021-10-08,
作者:
孙静
;
刘海涛
;
李小龙
;
荀明珠
;
于钢
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2021/12/02
P型金属氧化物半导体(PMOS)剂量计探头的差分工作电路技术
期刊论文
辐射研究与辐射工艺学报, 2021, 卷号: 39, 期号: 1, 页码: 85-90
作者:
王思源1,2
;
孙静2
;
陆妩1,2
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2021/03/09
金属氧化物半导体场效应晶体管(PMOSFET)
剂量计
差分电路
灵敏度
总剂量
高温环境下PMOS剂量计的剂量响应研究(英文)
期刊论文
原子能科学技术, 2021, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 2175-2182
作者:
马函1,2
;
孙静1
;
何承发1
;
荀明珠1
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2022/01/25
高温环境
RADFETs
辐照响应
TID Response of Bulk Si PMOS FinFETs: Bias, Fin Width, and Orientation Dependence
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2020, 卷号: 67, 期号: 7, 页码: 1320-1325
作者:
Ren, ZX (Ren, Zhexuan)[ 1 ]
;
An, X (An, Xia)[ 1 ]
;
Li, GS (Li, Gensong)[ 1 ]
;
Chen, G (Chen, Gong)[ 1 ]
;
Li, M (Li, Ming)[ 1 ]
收藏
  |  
浏览/下载:35/0
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提交时间:2020/09/09
Bulk Si FinFET
fin width
orientation
PMOS
threshold voltage shift
total ionizing dose (TID)
一种基于PMOS剂量计的多点测量方法
专利
申请日期: 2019-09-10,
作者:
孙静
;
郭旗
;
陆妩
;
余学峰
;
何承发
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2020/11/25
总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究
学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2019
作者:
赵京昊
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2019/07/15
电离总剂量辐射
热载流子效应
栅氧经时击穿
负偏置温度不稳定性
基于SOI结构的辐照传感器的辐照响应特性研究
期刊论文
核技术, 2019, 卷号: 42, 期号: 12, 页码: 47-52
作者:
孙静
;
郭旗
;
郑齐文
;
崔江维
;
何承发
收藏
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浏览/下载:25/0
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提交时间:2020/01/03
辐照传感器
基于绝缘体上硅P型金属氧化物半导体场效应晶体管
剂量计
A study on effects of total ionizing dose on hot carrier effect of PD I/O SOI PMOSFETs
期刊论文
RESULTS IN PHYSICS, 2019, 卷号: 13, 期号: 6, 页码: 1-5
作者:
Zhao, JH (Zhao, Jinghao)[ 1,2,3 ]
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1,2 ]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1,2 ]
;
Zhou, H (Zhou, Hang)[ 1,2,3 ]
;
Liang, XW (Liang, Xiaowen)[ 1,2,3 ]
收藏
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2020/03/20
Hot carrier effect
PMOS
Total ionizing dose effect
沟道宽度对65nm金属氧化物半导体器件负偏压温度不稳定性的影响研究
期刊论文
电子学报, 2018, 卷号: 46, 期号: 5, 页码: 1128-1132
作者:
崔江维
;
郑齐文
;
余德昭
;
周航
;
苏丹丹
收藏
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浏览/下载:33/0
  |  
提交时间:2018/07/06
65nm
负偏压温度不稳定性
沟道宽度
γ射线辐照对130 nm部分耗尽SOI MOS器件栅氧经时击穿可靠性的影响
期刊论文
红外与激光工程, 2018, 卷号: 47, 期号: 9, 页码: 214-219
作者:
马腾
;
苏丹丹
;
周航
;
郑齐文
;
崔江维
收藏
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浏览/下载:24/0
  |  
提交时间:2018/10/18
场效应晶体管
可靠性
栅氧经时击穿
Γ射线
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