CORC

在结果中检索

CORC

浏览/检索结果: 共11条，第1-10条 帮助

限定条件    
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Comparative studies of Ge and Si p-channel metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors with HfSiON dielectric and TaN metal gate 外文期刊
2010
作者:  Xu, QX;  Hu, AB
收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2010/11/26
Comprehensive understanding of the effect of electric dipole at high-k/SiO2 interface on the flatband voltage shift in metal-oxide-semiconductor device 外文期刊
2010
作者:  Han, K;  Wang, WW;  Ma, XL;  Chen, DP;  Zhang, J
收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2010/11/26
Titanium-tungsten nanocrystals embedded in a SiO2/Al2O3 gate dielectric stack for low-voltage operation in non-volatile memory 外文期刊
2010
作者:  Liu, M;  Long, SB;  Zhang, MH;  Wang, Q;  Yang, SQ
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2010/11/26
Effect of Al-diffusion-induced positive flatband voltage shift on the electrical characteristics of Al-incorporated high-k metal-oxide-semiconductor field-effective transistor 外文期刊
2009
作者:  Toriumi, A;  Ota, H;  Nabatame, T;  Mizubayashi, W;  Akiyama, K
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2010/11/26
Resistive switching characteristics of MnOx-based ReRAM 外文期刊
2009
作者:  Liu, M;  Zhang, S;  Guan, WH;  Liu, Q;  Wang, Q
收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2010/11/26
Charge storage characteristics of metal-induced nanocrystalline in erbium-doped amorphous silicon films 外文期刊
2008
作者:  Li, ZG;  Guan, WH;  Liu, M;  Long, SB;  Jia, R
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2010/11/26
Memory  Oxide  Fabrication  Er  
Comparison of discrete-storage nonvolatile memories: advantage of hybrid method for fabrication of Au nanocrystal nonvolatile memory 外文期刊
2008
作者:  Wang, Q;  Jia, R;  Guan, W;  Li, W;  Liu, Q
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2010/11/26
Metal  
Study of strained-silicon channel metal-oxide-semiconductor field effect transistors by large angle convergent-beam electron diffraction 外文期刊
2008
作者:  Liu, HH;  Duan, XF;  Xu, QX;  Liu, BG
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2010/11/26
Fabrication and charging characteristics of MOS capacitor structure with metal nanocrystals embedded in gate oxide 外文期刊
2007
作者:  Guan, WH;  Long, SB;  Liu, M;  Li, ZG;  Hu, Y
收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2010/11/26
Nanoscale strain analysis of strained-Si metal-oxide-semiconductor field effect transistors by large angle convergent-beam electron diffraction 外文期刊
2006
作者:  Liu, HH;  Duan, XF;  Qi, XY;  Xu, QX;  Li, HO
收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2010/11/26

©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace