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半导体研究所 [29]
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光电子学 [29]
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学科主题:光电子学
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Localization effect in green light emitting InGaN/GaN multiple quantum wells with varying well thickness
期刊论文
journal of alloys and compounds, 2015, 卷号: 625, 页码: 266–270
W. Liu
;
D.G. Zhao
;
D.S. Jiang
;
P. Chen
;
Z.S. Liu
;
J.J. Zhu
;
M. Shi
;
D.M. Zhao
;
X. Li
;
J.P. Liu
;
S.M. Zhang
;
H. Wang
;
H. Yang
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2016/03/23
The significant effect of the thickness of Ni film on the performance of the Ni/Au Ohmic contact to p-GaN
期刊论文
journal of applied physics, 2014, 卷号: 116, 期号: 16, 页码: 163708
Li, X. J.
;
Zhao, D. G.
;
Jiang, D. S.
;
Liu, Z. S.
;
Chen, P.
;
Zhu, J. J.
;
Le, L. C.
;
Yang, J.
;
He, X. G.
;
Zhang, S. M.
;
Zhang, B. S.
;
Liu, J. P.
;
Yang, H.
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2015/03/19
Effect of V-defects on the performance deterioration of InGaN_GaN multiple-quantum-well light-emitting diodes with varying barrier layer thickness
期刊论文
journal of applied physics, 2013, 卷号: 114, 期号: 14, 页码: 143706
Le, L. C.
;
Zhao, D. G.
;
Jiang, D. S.
;
Li, L.
;
Wu, L. L.
;
Chen, P.
;
Liu, Z. S.
;
Yang, J.
;
Li, X. J.
;
He, X. G.
;
Zhu, J. J.
;
Wang, H.
;
Zhang, S. M.
;
Yang, H.
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2014/04/09
A new method to measure the carrier concentration of p-GaN
期刊论文
acta physica sinica, 2011, 卷号: 60, 期号: 3, 页码: article no.37804
Zhou M
;
Zhao DG
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浏览/下载:66/7
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提交时间:2011/07/05
p-GaN
carrier concentration measurement
ultraviolet photodetector
LASER-DIODES
FILMS
Fabrication of Silicon-Based Template-Assisted Nanoelectrode Arrays and Ohmic Contact Properties Investigation
期刊论文
journal of nanoscience and nanotechnology, 2010, 卷号: 10, 期号: 11 sp. iss. si, 页码: 7428-7431
Bai AQ (Bai Anqi)
;
Cheng BW (Cheng Buwen)
;
Wang XF (Wang Xiaofeng)
;
Xue CL (Xue Chunlai)
;
Zuo YH (Zuo Yuhua)
;
Wang QM (Wang Qiming)
收藏
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2010/11/30
ANODIC ALUMINA FILMS
NANOWIRE ARRAYS
POROUS ALUMINA
NANOCRYSTALS
An efficient dose-compensation method for proximity effect correction
期刊论文
journal of semiconductors, 2010, 卷号: 31, 期号: 8, 页码: 86001-1-86001-4
作者:
Han Weihua
;
Yang Xiang
;
Zhang Yang
;
Zhang Renping
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2011/08/16
Investigation on the strain relaxation of InGaN layer and its effects on the InGaN structural and optical properties
期刊论文
physica b-condensed matter, 2010, 卷号: 405, 期号: 22, 页码: 4668-4672
Wang H (Wang H.)
;
Jiang DS (Jiang D. S.)
;
Jahn U (Jahn U.)
;
Zhu JJ (Zhu J. J.)
;
Zhao DG (Zhao D. G.)
;
Liu ZS (Liu Z. S.)
;
Zhang SM (Zhang S. M.)
;
Qiu YX (Qiu Y. X.)
;
Yang H (Yang H.)
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2010/12/12
InGaN
Dislocation
Metalorganic chemical vapor deposition
High resolution X-ray diffraction
Cathodoluminescence
MISFIT DISLOCATIONS
QUANTUM-WELLS
BAND-GAP
EPILAYERS
GENERATION
ALLOYS
INN
An experimental study about the influence of well thickness on the electroluminescence of InGaN/GaN multiple quantum wells
期刊论文
journal of alloys and compounds, 2010, 卷号: 489, 期号: 2, 页码: 461-464
作者:
Wang YT
;
Zhao DG
;
Zhang SM
;
Yang H
;
Jiang DS
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浏览/下载:146/11
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提交时间:2010/04/04
Nitride materials
Crystal growth
X-ray diffraction
TIME-RESOLVED PHOTOLUMINESCENCE
LIGHT-EMITTING-DIODES
PIEZOELECTRIC FIELDS
LASER-DIODES
DEPENDENCE
RECOMBINATION
POLARIZATION
DYNAMICS
GROWTH
MOCVD
Effects of AlGaN layer parameter on ultraviolet response of n(+)-GaN/i-AlxGa1 (-) N-x/n(+)-GaN structure ultraviolet-infrared photodetector
期刊论文
acta physica sinica, 2010, 卷号: 59, 期号: 12, 页码: 8903-8909
作者:
Zhu JJ
;
Jiang DS
;
Zhao DG
;
Deng Y
;
Wu LL
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浏览/下载:54/2
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提交时间:2011/07/05
GaN
ultraviolet and infrared photodetector
quantum efficiency
SOLAR-BLIND
Thickness dependent dislocation, electrical and optical properties in InN films grown by MOCVD
期刊论文
acta physica sinica, 2009, 卷号: 58, 期号: 5, 页码: 3416-3420
作者:
Li Y
;
Chen P
;
Jiang DS
;
Wang H
;
Wang ZG
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浏览/下载:49/4
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提交时间:2010/03/08
InN
dislocation
carrier origination
localization
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