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浏览/检索结果: 共10条，第1-10条 帮助 限定条件 学科主题：光学薄膜     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Influences of CO2 laser annealing on mechanical and laser-induced damage properties of ZrO2 thin films 期刊论文 optik, 2008, 卷号: 119, 期号: 13, 页码: 624, 629 Wei Chaoyang; 邓德刚; Tian Guanglei; 贺洪波; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：676/134  |  提交时间：2009/09/22 CO2 laser annealing  Weak absorption  Laser-induced damage threshold  Residual stress   退火对HfO2/SiO2多层膜残余应力的影响 期刊论文 Chin. Opt. Lett., 2008, 卷号: 6, 期号: 3, 页码: 225, 227 申雁鸣; 韩朝霞; 邵建达; 邵淑英; 贺洪波 收藏  |  浏览/下载：1274/170  |  提交时间：2009/09/22 退火  Annealing effects  HfO2/SiO2多层膜  Electron beam evaporation  残余应力   Y2O3 stabilized ZrO2 thin films deposited by electron-beam evaporation: Optical properties, structure and residual stresses 期刊论文 vacuum, 2008, 卷号: 83, 期号: 2, 页码: 366, 371 Xiao Qi-Ling; Xu Cheng; 邵淑英; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：652/164  |  提交时间：2009/09/22 YSZ thin films  Residual stress  Electron-beam evaporation  Refractive index  Structural properties   Influence of ytterbia content on residual stress and microstructure of Y2O3-ZrO2 thin films prepared by EB-PVD 期刊论文 chin. phys. lett., 2008, 卷号: 25, 期号: 9, 页码: 3433, 3435 Xiao Qi-Ling; 邵淑英; 贺洪波; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：666/125  |  提交时间：2009/09/22 STABILIZED-ZIRCONIA TBCS  DEPOSITION  COATINGS  ZRO2   沉积温度对氧化钇稳定氧化锆薄膜残余应力的影响 期刊论文 光学学报, 2008, 卷号: 28, 期号: 5, 页码: 1007, 1011 肖祁陵; 贺洪波; 邵淑英; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：734/132  |  提交时间：2009/09/22 薄膜光学  残余应力  氧化钇稳定氧化锆薄膜  沉积温度  Deposition temperature  Residual stress  Thin film optics  Yttria-stabilized zirconia thin films  Yttrial-stabilized zirconia films   Influences of oxygen partial pressure on structure and related properties of ZrO2 thin films prepared by electron beam evaporation deposition 期刊论文 appl. surf. sci., 2007, 卷号: 254, 期号: 2, 页码: 552, 556 Shen Yanming; 邵淑英; Yu Hua; 范正修; 贺洪波; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：972/249  |  提交时间：2009/09/22 ZrO2  thin films  electron beam evaporation  residual stress  oxygen partial pressure   氧分压对电子束蒸发SiO2薄膜机械性质和光学性质的影响 期刊论文 光子学报, 2005, 卷号: 34, 期号: 5, 页码: 742, 745 邵淑英; 范正修; 邵建达; 沈卫星; 江敏华 收藏  |  浏览/下载：702/105  |  提交时间：2009/09/22 SiO2薄膜  SiO_2 films  氧分压  Oxygen partial pressure  残余应力  Residual stress  表面形貌  Surface morphology  折射率  Refractive index  电子束蒸发  Electron beam evaporation   ZrO2／SiO2多层膜中膜厚组合周期数及基底材料对残余应力的影响 期刊论文 物理学报, 2005, 卷号: 54, 期号: 7, 页码: 3312, 3316 邵淑英; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：902/166  |  提交时间：2009/09/22 残余应力  ZrO2/SiO2 multilayers  SiO2  residual stress  ZrO2  periods of repeating thickness  多层膜  周期数  组合  膜厚  基底材料  X射线衍射技术  玻璃基底  电子束蒸发  光学干涉仪  应力值  沉积条件  曲率半径  测量分析  石英基底  变化趋势  结构应变  结晶程度  相互作用  折射率  熔石英  压应力  微结构   Stress analysis of ZrO2/SiO2 multilayers deposited on different substrates with different thickness periods 期刊论文 opt. lett., 2005, 卷号: 30, 期号: 16, 页码: 2119, 2121 邵淑英; 邵建达; 贺洪波; 范正修 收藏  |  浏览/下载：491/72  |  提交时间：2009/09/22 INTERFACE STRESS  SURFACE STRESS  THIN-FILMS   沉积参量及时效时间对SiO2薄膜残余应力的影响 期刊论文 光学学报, 2005, 卷号: 25, 期号: 1, 页码: 126, 130 邵淑英; 田光磊; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：624/126  |  提交时间：2009/09/22 薄膜光学  thin film optics  SiO2薄膜  SiO2 films  残余应力  residual stress  沉积温度  deposition temperature  氧分压  oxygen partial pressure  时效  aging