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	Reliability Evaluation and Analysis of FPGA-Based Neural Network Acceleration System 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2021, 卷号: 29, 期号: 3, 页码: 472-484 作者: Xu, Dawen; Zhu, Ziyang; Liu, Cheng; Wang, Ying; Zhao, Shuang 收藏 \| 浏览/下载：14/0 \| 提交时间：2021/12/01 Neural networks Circuit faults Hardware Acceleration Reliability Analytical models Computational modeling Integrated circuit reliability reliability
	Accumulation of microplastics in typical commercial aquatic species: A case study at a productive aquaculture site in China 期刊论文 SCIENCE OF THE TOTAL ENVIRONMENT, 2020, 卷号: 708, 页码: 11 作者: Wu, Fangzhu; Wang, Youji; Leung, Jonathan Y. S.; Huang, Wei; Zeng, Jiangning 收藏 \| 浏览/下载：54/0 \| 提交时间：2020/03/20 Aquaculture Bioaccumulation Commercial species Microplastics Sediment Xiangshan Bay
	Rapid and sensitive detection of formaldehyde based on AC electrokinetic effects 期刊论文 IET Micro and Nano Letters, 2018, 卷号: Vol.13 No.1, 页码: 63-68 作者: Liang,Huaguo; Wu,Jayne; Liu,Xin; Qi,Haochen; Wang,Chunchang 收藏 \| 浏览/下载：2/0 \| 提交时间：2019/04/22 IMMUNOSENSOR
	A single event transient detector in SRAM-based FPGAs 期刊论文 IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2017, 卷号: Vol.14 No.12 作者: Liang,Huaguo; Ni,Tianming; Xu,Xiumin; Yi,Maoxiang; Lu,Yingchun 收藏 \| 浏览/下载：9/0 \| 提交时间：2019/04/22 FLASH-BASED FPGAS PROPAGATION MITIGATION
	Double-Node-Upset-Resilient Latch Design for Nanoscale CMOS Technology 期刊论文 IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2017, 卷号: Vol.25 No.6, 页码: 1978-1982 作者: Liang,Huaguo; Xu,Xiumin; Yi,Maoxiang; Yan,Aibin; Ouyang,Yiming 收藏 \| 浏览/下载：3/0 \| 提交时间：2019/04/22 HIGH-PERFORMANCE TOLERANT LATCH SEU COST
	Highly Robust Double Node Upset Resilient Hardened Latch Design 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS on Electronics, 2017, 卷号: E100-C No.5, 页码: 496-503 作者: Liang,Huaguo; Li,Xin; Xu,Xiumin; Yan,Aibin; Huang,Zhengfeng 收藏 \| 浏览/下载：7/0 \| 提交时间：2019/04/22 TECHNOLOGY CELL
	A transient pulse dually filterable and online self-recoverable latch 期刊论文 IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2017, 卷号: Vol.14 No.2 作者: Liang,Huaguo; Lu,Yingchun; Yan,Aibin; Huang,Zhengfeng 收藏 \| 浏览/下载：5/0 \| 提交时间：2019/04/22 NANOSCALE CMOS TECHNOLOGY LOW-COST HIGH-PERFORMANCE TOLERANT LATCH DESIGN
	HLDTL: High-performance, low-cost, and double node upset tolerant latch design 期刊论文 Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium, 2017 作者: Liang,Huaguo; Yi,Maoxiang; Cui,Jie; Yan,Aibin; Huang,Zhengfeng 收藏 \| 浏览/下载：12/0 \| 提交时间：2019/04/22 NANOSCALE CMOS TECHNOLOGY RADIATION-HARDENED LATCH SINGLE EVENT CIRCUITS
	An SEU resilient, SET filterable and cost effective latch in presence of PVT variations 期刊论文 Microelectronics Reliability, 2016, 卷号: Vol.63, 页码: 239-250 作者: Liang,Huaguo; Li,Xuejun; Jiang,Cuiyun; Yan,Aibin; Ouyang,Yiming 收藏 \| 浏览/下载：2/0 \| 提交时间：2019/04/22 NANOSCALE CMOS TECHNOLOGY RADIATION-HARDENED LATCH TOLERANT LATCH HIGH-PERFORMANCE DESIGN CIRCUITS SYSTEMS
	Novel Low Cost and Double Node Upset Tolerant Latch Design for Nanoscale CMOS Technology 期刊论文 Proceedings of the Asian Test Symposium, 2016, 页码: 252-256 作者: Liang,Huaguo; Xu,Xiaolin; Fang,Xiangsheng; Yan,Aibin; Huang,Zhengfeng 收藏 \| 浏览/下载：9/0 \| 提交时间：2019/04/22 65 NM CMOS HIGH-PERFORMANCE SINGLE EVENT SEU CIRCUITS SYSTEMS

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