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西安交通大学 [1]
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会议论文 [1]
期刊论文 [1]
发表日期
2018 [1]
2017 [1]
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Application and Significance of the Equivalent Circuit Method in the Analysis of Dielectric Response
期刊论文
2018, 卷号: 38, 页码: 300-308
作者:
Gao, Yanfeng[1]
;
Liang, Xidong[2]
;
Chalashkanov, N.M.[3]
;
Wu, Chao[2]
;
Zuo, Zhou[4]
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提交时间:2019/11/30
DC Breakdown voltage tests may not be a good indicator of long-Term ageing behaviour: A study of silica - XLPE nanocomposites
会议论文
作者:
Lei, Weiqun
;
Dissado, L.A.
;
Dodd, S.J.
;
Chalashkanov, N.M.
;
Fothergill, J.C.
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/11/26
Breakdown strengths
Constant stress
High voltage DC
Inverse power law
Long term ageing
Long term performance
Short term
Silica nanocomposites
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