×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
北京航空航天大学 [4]
内容类型
会议论文 [2]
期刊论文 [2]
发表日期
2018 [2]
2017 [1]
2015 [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共4条,第1-4条
帮助
限定条件
专题:北京航空航天大学
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
A design and qualification of LED flip Chip-on-Board module with tunable color temperatures
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2018, 卷号: 84, 页码: 140-148
作者:
Fan, Jiajie
;
Cao, Jianwu
;
Yu, Chaohua
;
Qian, Cheng
;
Fan, Xuejun
收藏
  |  
浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2019/12/30
LED
Wafer level chip scale package
Chip-on-Board
Tunable color temperatures
Luminous flux modeling
A design and qualification of LED flip Chip-on-Board module with tunable color temperatures
会议论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2018-05-01
作者:
Fan, Jiajie
;
Cao, Jianwu
;
Yu, Chaohua
;
Qian, Cheng
;
Fan, Xuejun
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2019/12/30
LED
Wafer level chip scale package
Chip-on-Board
Tunable color temperatures
Luminous flux modeling
Photometric and Colorimetric Assessment of LED Chip Scale Packages by Using a Step-Stress Accelerated Degradation Test (SSADT) Method
期刊论文
MATERIALS, 2017, 卷号: 10
作者:
Qian, Cheng
;
Fan, Jiajie
;
Fang, Jiayi
;
Yu, Chaohua
;
Ren, Yi
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2019/12/30
light-emitting diode
chip scale package
accelerated aging
step stress test
reliability qualification
A Novel Knowledge-Based Diagnostic System for Flight Control Software
会议论文
2015 PROGNOSTICS AND SYSTEM HEALTH MANAGEMENT CONFERENCE (PHM), 2015-01-01
作者:
Shao, Yuanxun
;
Li, Guoqi
;
Yu, Zhengwei
;
Liu, Bin
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2020/01/06
Flight Control Software
Knowledge-based System
SFTA
CLIPS
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace