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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2018     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application 期刊论文 IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, 2018, 页码: 1 作者:  Jie Cui;  Xiangsheng Fang;  Jiliang Zhang;  Maoxiang Yi;  Zhengfeng Huang 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/04/22 Latches  Radiation  hardening  Clocks  Feedback  loop  Power  dissipation  Reliability  Electronic  mail  Circuit  reliability  radiation  hardening  soft  error  double-node  upset  single  node  upset.