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北京大学 [3]
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其他 [3]
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2012 [1]
2011 [1]
2010 [1]
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Improvement of Endurance Degradation for Oxide Based Resistive Switching Memory Devices Correlated With Oxygen Vacancy Accumulation Effect
其他
2012-01-01
Lu, Y.
;
Chen, B.
;
Gao, B.
;
Fang, Z.
;
Fu, Y. H.
;
Yang, J. Q.
;
Liu, L. F.
;
Liu, X. Y.
;
Yu, H. Y.
;
Kang, J. F.
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2015/11/13
hafnium oxide
nonvolatile memory
endurance
conductive filament
oxygen vacancy
RRAM
High performance unipolar AlOy/HfOx/Ni based RRAM compatible with Si diodes for 3D application
其他
2011-01-01
Tran, X.A.
;
Gao, B.
;
Kang, J.F.
;
Wu, L.
;
Wang, Z.R.
;
Fang, Z.
;
Pey, K.L.
;
Yeo, Y.C.
;
Du, A.Y.
;
Nguyen, B.Y.
;
Li, M.F.
;
Yu, H.Y.
收藏
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浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/13
Bias temperature instability of binary oxide based reram
其他
2010-01-01
Fang, Z.
;
Yu, H.Y.
;
Liu, W.J.
;
Pey, K.L.
;
Li, X.
;
Wu, L.
;
Wang, Z.R.
;
Lo, Patrick G.Q.
;
Gao, B.
;
Kang, J.F.
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
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