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苏州纳米技术与纳米仿... [4]
内容类型
期刊论文 [4]
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2016 [1]
2014 [2]
2012 [1]
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专题:苏州纳米技术与纳米仿生研究所
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Normally OFF GaN-on-Si MIS-HEMTs Fabricated With LPCVD-SiNx Passivation and High-Temperature Gate Recess
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2016, 卷号: 63, 期号: 2
作者:
Shi, YJ
;
Huang, S
;
Bao, QL
;
Wang, XH
;
Wei, K
收藏
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浏览/下载:43/0
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提交时间:2017/03/11
High Temperature Characteristics of GaN-Based Inverter Integrated With Enhancement-Mode (E-Mode) MOSFET and Depletion-Mode (D-Mode) HEMT
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2014, 卷号: 35, 期号: 1, 页码: 33-35
作者:
Cai, Y (蔡勇)
收藏
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浏览/下载:90/0
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提交时间:2014/12/01
GaN
DCFL
inverter
small variations
Demonstration of Normally-Off Recess-Gated AlGaN/GaN MOSFET Using GaN Cap Layer as Recess Mask
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2014, 卷号: 35, 期号: 12, 页码: 1197-1199
作者:
Cai, Y (蔡勇)
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2015/02/03
Self-terminating
normally-off
AlGaN/GaN MOSFET
GaN cap layer
gate recess
recess mask
Threshold voltage dependence on channel width in nano-channel array AlGaN/GaN HEMTs
期刊论文
Phys. Status Solidi C, 2012, 卷号: 9, 期号: 3, 页码: 879–882
作者:
Baoshun Zhang(张宝顺)
;
Yong Cai(蔡勇)
;
Yong Cai(蔡勇)
;
Wenhua Shi(时文华)
;
Chunhong Zeng(曾春红)
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2013/01/16
AlGaN/GaN HEMT
nano-channel array
E-mode
threshold voltage
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