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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 学科主题：空间技术     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 基于(16,8)准循环码的星载FPGA有限状态机容错设计 期刊论文 北京邮电大学学报, 2014, 卷号: 37, 期号: 1, 页码: 85-89 作者:  冯水春;  孟新;  毛博年;  卞春江 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2014/07/14 星载数字系统  单粒子效应  可编程门阵列  有限状态机  容错设计  准循环码   SEU Mitigation Strategies for SRAM-based FPGA 会议论文 International Symposium on Photoelectronic Detection and Imaging 2011 - Space Exploration Technologies and Applications, Beijing, PEOPLES R CHINA, MAY 24-26, 2011 作者:  Luo Pei;  Zhang Jian 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2014/12/15 SRAM-based FPGA  SEU  scrub  reliability   几种256KbitSRAM芯片的单粒子翻转规律 期刊论文 中国空间科学技术, 1999, 卷号: 19, 期号: 1, 页码: 56-62 隋厚堂 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2014/04/30 半导体存储器  SEU率  统计分析  SRAM  总翻转率   IDT7164在_40_Ar束流中的单粒子效应 期刊论文 原子能科学技术, 1997, 卷号: 31, 期号: 3, 页码: 264-266 王丽君; 孙辉先; 陈小敏; 汪大星; 候明东; 马峰; 刘杰 收藏  |  浏览/下载：47/0  |  提交时间：2014/04/30 加速器  单粒子事件  IDT7164芯片  截面