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科研机构
半导体研究所 [5]
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期刊论文 [3]
会议论文 [2]
发表日期
2007 [2]
2006 [2]
2000 [1]
学科主题
半导体材料 [5]
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学科主题:半导体材料
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Columnar structures and stress relaxation in thick GaN films grown on sapphire by HVPE
期刊论文
chinese physics letters, 2007, 卷号: 24, 期号: 3, 页码: 822-824
Wei TB (Wei Tong-Bo)
;
Ma P (Ma Ping)
;
Duan RF (Duan Rui-Fei)
;
Wang JX (Wang Jun-Xi)
;
Li JM (Li Jin-Min)
;
Zeng YP (Zeng Yi-Ping)
收藏
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浏览/下载:37/0
  |  
提交时间:2010/03/29
VAPOR-PHASE EPITAXY
Micro-raman investigation of defects in a 4H-SiC homoepilayer
会议论文
6th european conference on silicon carbide and related materials, newcastle upon tyne, england, sep, 2006
Liu, XF (Liu, X. F.)
;
Sun, GS (Sun, G. S.)
;
Li, JM (Li, J. M.)
;
Zhao, YM (Zhao, Y. M.)
;
Li, JY (Li, J. Y.)
;
Wang, L (Wang, L.)
;
Zhao, WS (Zhao, W. S.)
;
Luo, MC (Luo, M. C.)
;
Zeng, YP (Zeng, Y. P.)
收藏
  |  
浏览/下载:162/28
  |  
提交时间:2010/03/29
micro-raman
4H-SiC
defects
3C-inclusions
triangle-shaped inclusion
EPITAXIAL LAYERS
SILICON-CARBIDE
Morphological defects and uniformity issues of 4H-SiC homoepitaxial layers grown on off-oriented (0001)Si faces
期刊论文
materials science in semiconductor processing, 2006, 卷号: 9, 期号: 1-3, 页码: 275-278
Sun GS (Sun G. S.)
;
Liu XF (Liu X. F.)
;
Gong QC (Gong Q. C.)
;
Wang L (Wang L.)
;
Zhao WS (Zhao W. S.)
;
Li JY (Li J. Y.)
;
Zeng YP (Zeng Y. P.)
;
Li JM (Li J. M.)
收藏
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浏览/下载:43/0
  |  
提交时间:2010/04/11
4H-SiC
homoepitaxial layers
surface morphological defect
optical microscopy
SILICON-CARBIDE
DISLOCATIONS
FILMS
Morphological defects and uniformity issues of 4H-SiC homoepitaxial layers grown on off-oriented (0001)Si faces
会议论文
11th conference on defects recognition imaging and physics in semiconductors, beijing, peoples r china, sep 13-19, 2005
Sun, GS (Sun, G. S.)
;
Liu, XF (Liu, X. F.)
;
Gong, QC (Gong, Q. C.)
;
Wang, L (Wang, L.)
;
Zhao, WS (Zhao, W. S.)
;
Li, JY (Li, J. Y.)
;
Zeng, YP (Zeng, Y. P.)
;
Li, JM (Li, J. M.)
收藏
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浏览/下载:166/18
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提交时间:2010/03/29
4H-SiC
Tentative analysis of Swirl defects in silicon crystals
期刊论文
journal of crystal growth, 2000, 卷号: 213, 期号: 3-4, 页码: 276-282
Fan TW
;
Qian JJ
;
Wu J
;
Lin LY
;
Yuan J
收藏
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浏览/下载:80/0
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提交时间:2010/08/12
swirl defect
silicon
electron energy loss spectroscopy
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