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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2023     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Simulation study on single-event burnout in field-plated Ga2O3 MOSFETs 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2023, 卷号: 149 作者:  Yu, Cheng-hao;  Guo, Hao-min;  Liu, Yan;  Wu, Xiao-dong;  Zhang, Li-long 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2023/11/10 Depletion-mode  Single-event burnout (SEB)  Single-event gate rupture