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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Simulation study on single-event burnout in field-plated Ga2O3 MOSFETs 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2023, 卷号: 149 作者:  Yu, Cheng-hao;  Guo, Hao-min;  Liu, Yan;  Wu, Xiao-dong;  Zhang, Li-long 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2023/11/10 Depletion-mode  Single-event burnout (SEB)  Single-event gate rupture   SEGR-and SEB-hardened structure with DSPSOI in power MOSFETs 期刊论文 2017, 卷号: 38, 期号: 12, 页码: 68-72 作者:  Zhaohuan Tang;  Xinghua Fu;  Fashun Yang;  Kaizhou Tan;  Kui Ma 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/31 power MOSFETs  partial silicon-on-insulator  single event gate rupture  single event burnout   Development of equipment for testing MOSFET's radiation effects 期刊论文 He Jishu/Nuclear Techniques, 2007, 卷号: 30, 期号: 2, 页码: 152-156 作者:  Zhao, Youxin 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2022/02/18