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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A Guaranteed Secure Scan Design Based on Test Data Obfuscation by Cryptographic Hash 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 4524-4536 作者:  Cui, Aijiao;  Li, Mengyang;  Qu, Gang;  Li, Huawei 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2021/12/01 Ciphers  Encryption  Integrated circuits  Side-channel attacks  Testing  Cryptographic hash function  obfuscation logic  scan design  scan-based side-channel attack