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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Locating the Centre Line of Paddle Vats for Cutting Wafer Images by Using Binary Segmentation 会议论文 作者:  Pan, Nengyuan;  Liu, Rong;  Wang, Meiqing 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/11/26 threshold  paddle vat detection  wafer dicing  binarization  density histogram