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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 TA-denseNet: Efficient hardware trust and assurance model based on feature extraction and comparison of SEM images and GDSII images 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2024, 卷号: 95, 页码: 9 作者:  Xiao, Wei;  Zhao, Fazhan;  Zhao, Kun;  Ma, Hongtu;  Li, Qing 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2024/02/20 Scanning electron microscopy  Deep learning  Hardware trust and assurance  Integrated circuit