×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
微电子研究所 [8]
内容类型
期刊论文 [8]
发表日期
2018 [4]
2016 [1]
2015 [2]
2011 [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共8条,第1-8条
帮助
限定条件
内容类型:期刊论文
专题:微电子研究所
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
题名升序
题名降序
作者升序
作者降序
Identification of interfacial defects in a Ge gate stack based on ozone passivation
期刊论文
Semiconductor Science and Technology, 2018
作者:
Wang YR(王艳蓉)
;
Xiang JJ(项金娟)
;
Yang H(杨红)
;
Zhang J(张静)
;
Zhao C(赵超)
收藏
  |  
浏览/下载:37/0
  |  
提交时间:2019/05/20
Proton Irradiation Effect on InP-Based High Electron Mobility Transistor by Numerical Simulation with Non-Uniform Induced Acceptor-Like Defects
期刊论文
PHYSICA STATUS SOLIDI-RAPID RESEARCH LETTERS, 2018
作者:
Jin Z(金智)
;
Shuxiang Sun
;
Mingming Chang
;
Chao Zhang
;
Chao Cheng
收藏
  |  
浏览/下载:27/0
  |  
提交时间:2019/04/19
Breaking the Current-Retention Dilemma in Cation-Based Resistive Switching Devices Utilizing Graphene with Controlled Defects
期刊论文
Advanced Materials, 2018
作者:
Zhao XL(赵晓龙)
;
Liu Q(刘琦)
;
Liu S(刘森)
;
Niu JB(牛洁斌)
;
Zhang XM(张续猛)
收藏
  |  
浏览/下载:21/0
  |  
提交时间:2019/04/10
Atomic Scale Modulation of Self-Rectifying Resistive Switching by Interfacial Defects
期刊论文
Advavced Science, 2018
作者:
xing wu
;
kaihao yu
;
Dongkyu cha
;
Michel Bosman
;
Nagarajan Raghavan
收藏
  |  
浏览/下载:17/0
  |  
提交时间:2019/04/10
Invisible growth of microstructural defects in graphene chemical vapor deposition on copper foil
期刊论文
CARBON, 2016
作者:
Jin Z(金智)
收藏
  |  
浏览/下载:13/0
  |  
提交时间:2017/05/08
Omnidirectional diffraction control with rotational topological defects
期刊论文
Optics Express, 2015
作者:
Li HL(李海亮)
;
Shi LN(史丽娜)
;
Xie CQ(谢常青)
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2016/05/24
Effects of defects and thermal treatment on the properties of graphene
期刊论文
VACUUM, 2015
作者:
Ye TC(叶甜春)
;
Jia KP(贾昆鹏)
;
Su YJ(粟雅娟)
;
Chen Y(陈阳)
;
Luo J(罗军)
收藏
  |  
浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2016/05/31
Mobility enhancement technology for scaling of CMOS devices: Overview and status
期刊论文
Journal of Electron Material, 2011
作者:
Song Y(宋毅)
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2012/11/16
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace