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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 限定条件 专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 RPI-SE: a stacking ensemble learning framework for ncRNA-protein interactions prediction using sequence information 期刊论文 BMC BIOINFORMATICS, 2020, 卷号: 21, 期号: 1, 页码: 1-10 作者:  Yi, HC (Yi, Hai-Cheng)[ 1,2 ];  You, ZH (You, Zhu-Hong)[ 1,2 ];  Wang, MN (Wang, Mei-Neng)[ 3 ];  Guo, ZH (Guo, Zhen-Hao)[ 1 ];  Wang, YB (Wang, Yan-Bin)[ 1 ] 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2020/04/21 Sequence analysis  RNA-protein interaction  ncRNA  Ensemble learning  Position weight matrix  Legendre moments   Effects of orientation of substrate on the enhanced low-dose-rate sensitivity (ELDRS) in NPN transistors 期刊论文 CHINESE PHYSICS C, 2011, 卷号: 35, 期号: 2, 页码: 169-173 作者:  Lu Wu;  Zheng Yu-Zhan;  Wang Yi-Yuan;  Ren Di-Yuan;  Guo Qi 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2012/11/29 NPN bipolar junction transistors  (60)Co-gamma irradiation  ELDRS  orientation of substrate   Theorical model of enhanced low dose rate sensitivity observed in p-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistor 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 6 作者:  Gao Bo;  Yu Xue-Feng;  Ren Di-Yuan;  Cui Jiang-Wei;  Lan Bo 收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2012/11/29 p-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistor  Co-60 gamma-ray  total-dose irradiation damage effects  enhanced low dose rate sensitivity   Degradation and dose rate effects of bipolar linear regulator on ionizing radiation 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 9, 页码: - 作者:  Wang Yi-Yuan;  Lu Wu;  Ren Di-Yuan;  Guo Qi;  Yu Xue-Feng 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2012/11/29 bipolar linear regulators  total ionizing dose  dose rate effect  radiation damage   Research on the total-dose irradiation damage effect for static random access memory-based field programmable gate array 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 3 作者:  Gao Bo;  Yu Xue-Feng;  Ren Di-Yuan;  Li Yu-Dong;  Cui Jiang-Wei 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/11/29 (60)Co gamma  total-dose irradiation damage effects  SRAM-based FPGA  CMOS cell   Total dose and dose rate effects of linear voltage regulator with different biases 期刊论文 Yuanzineng Kexue Jishu/Atomic Energy Science and Technology, 2010, 卷号: 44, 期号: UPPL. 1, 页码: 550-555 作者:  Wang Yi-Yuan;  Lu Wu;  Ren Di-Yuan;  Gao Bo;  Xi Shan-Bin 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2012/11/29 Characteristics of high- and low-dose-rate damage for domestic npn transistors of various emitter areas 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2009, 卷号: 58, 期号: 8, 页码: 5572-5577 作者:  Zheng Yu-Zhan;  Lu Wu;  Ren Di-Yuan;  Wang Yi-Yuan;  Guo Qi 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2012/11/29 emitter area  domestic npn transistors  dose rate  radiation damage