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	Impacts of carbon ions on SEU in SOI SRAM 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2021, 卷号: 126, 页码: 6 作者: Gao, J.; Zhang, Q.; Xi, K.; Li, B.; Wang, C. 收藏 \| 浏览/下载：26/0 \| 提交时间：2022/01/24 SEE SEU SOI SRAM C
	Multiple Layout-Hardening Comparison of SEU-Mitigated Filp-Flops in 22-nm UTBB FD-SOI Technology 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2020, 卷号: 67, 期号: 1, 页码: 374-381 作者: Cai, Chang; Liu, Tianqi; Zhao, Peixiong; Fan, Xue; Huang, Hongyang 收藏 \| 浏览/下载：23/0 \| 提交时间：2022/01/19 D filp-flops (DFFs) heavy ions radiation hardening single-event upsets (SEUs) ultrathin body and buried oxide fully depleted silicon on insulator (UTBB FDSOI)
	Proton and light ions induced SEU effect in a SOI SRAM with gold plated lid 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 100, 页码: 5 作者: Gao, J.; Zhang, Q.; Li, B.; Xi, K.; Li, B. 收藏 \| 浏览/下载：16/0 \| 提交时间：2022/01/19
	The Impacts of Heavy Ion Energy on Single Event Upsets in SOI SRAMs 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 页码: 1091-1100 作者: Gu, Song; Liu, Jie; Bi, Jinshun; Zhao, Fazhan; Zhang, Zhangang 收藏 \| 浏览/下载：23/0 \| 提交时间：2018/07/16 Energy dependence heavy ions nuclear reactions silicon-on-insulator (SOI) technology single event upset (SEU)
	A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM 会议论文作者: Yan, Weiwei; Wang, Bin; Zeng, Chuanbin; Geng, Chao; Liu, Tianqi 收藏 \| 浏览/下载：40/0 \| 提交时间：2018/08/20 Heavy ion irradiation Single event upset Active delay element SRAM cell Radiation hardened Silicon-on-insulator
	A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM 期刊论文 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017, 卷号: 406, 页码: 437-442 作者: Wang, Bin; Zeng, Chuanbin; Geng, Chao; Liu, Tianqi; Khan, Maaz 收藏 \| 浏览/下载：35/0 \| 提交时间：2018/05/31 Heavy ion irradiation Single event upset Active delay element SRAM cell Radiation hardened Silicon-on-insulator
	Impact of energy straggle on proton-induced single event upset test in a 65-nm SRAM cell 期刊论文 CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 页码: 6 作者: Ye, Bing; Liu, Jie; Wang, Tie-Shan; Liu, Tian-Qi; Luo, Jie 收藏 \| 浏览/下载：19/0 \| 提交时间：2018/05/31 single event upset energy straggle proton irradiation nanodevice
	Application of SEU imaging for analysis of device architecture using a 25 MeV/u Kr-86 ion microbeam at HIRFL 期刊论文 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017, 卷号: 404, 页码: 254-258 作者: Wang, Bin; Liu, Tianqi; Liu, Jie; Yang, Zhenlei; Guo, Jinlong 收藏 \| 浏览/下载：27/0 \| 提交时间：2018/05/31 Heavy-ion microbeam High-energy Single event upset FPGA Imaging

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