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物理研究所 [2]
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期刊论文 [2]
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2014 [1]
2008 [1]
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Residual stress measurement in thin films using a slitting method with geometric phase analysis under a dual beam (FIB/SEM) system
期刊论文
MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY, 2014, 卷号: 25, 期号: 9
Zhu, RH
;
Xie, HM
;
Dai, XL
;
Zhu, JG
;
Jin, AZ
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提交时间:2015/04/14
residual stress
thin film
focused ion beam
geometric phase analysis
finite element model
Structure and dehydration of layered perovskite niobate with bilayer hydrates prepared by exfoliation/self-assembly process
期刊论文
JOURNAL OF SOLID STATE CHEMISTRY, 2008, 卷号: 181, 期号: 7, 页码: 1684
Chen, YF
;
Zhao, XH
;
Ma, H
;
Ma, SL
;
Huang, GL
;
Makita, YJ
;
Bai, XD
;
Yang, XJ
收藏
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2013/09/24
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