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| 星用超深亚微米CMOS器件辐射效应及其可靠性研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
作者: 崔江维
  收藏 | 浏览/下载：6/0 | 提交时间：2016/05/10
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| 低能电子束非电离能损(NIEL)的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
作者: 于新
收藏 | 浏览/下载：83/0 | 提交时间：2016/05/10
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| 静态随机存储器总剂量辐射效应及损伤机理的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
作者: 卢健
收藏 | 浏览/下载：13/0 | 提交时间：2016/05/10
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| 星用超深亚微米CMOS器件辐射效应及其可靠性研究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院研究生院, 2012
作者: 崔江维
收藏 | 浏览/下载：5/0 | 提交时间：2016/05/10
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| 低能电子束非电离能损(NIEL)的研究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院研究生院, 2012
作者: 于新
收藏 | 浏览/下载：5/0 | 提交时间：2016/05/10
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| 静态随机存储器总剂量辐射效应及损伤机理的研究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院研究生院, 2012
作者: 卢健
收藏 | 浏览/下载：5/0 | 提交时间：2016/05/10
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| TDI-CCD辐射效应测试技术及总剂量效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
作者: 张乐情
收藏 | 浏览/下载：8/0 | 提交时间：2016/05/10
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| TDI-CCD辐射效应测试技术及总剂量效应研究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院研究生院, 2012
作者: 张乐情
收藏 | 浏览/下载：13/0 | 提交时间：2016/05/10
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| 应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计 期刊论文
半导体技术, 2012, 期号: 7, 页码: 562-566
作者: 张乐情; 郭旗 ; 李豫东; 卢健; 张兴尧
收藏 | 浏览/下载：14/0 | 提交时间：2012/11/29
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| 沟道宽长比对深亚微米NMOSFET总剂量辐射与热载流子损伤的影响 期刊论文
物理学报, 2012, 卷号: 61, 期号: 2, 页码: 347-353
作者: 崔江维; 余学峰; 任迪远; 卢健
收藏 | 浏览/下载：11/0 | 提交时间：2012/11/29
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